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题名自动测试领域中的人工智能技术
被引量：1
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作者
王珏
王勤红
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机构
航空航天工业部八院八○九所
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出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
1991年第2期51-55,共5页
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文摘
人工智能技术的发展为目前自动测试系统存在的问题提供了一种新的解决方法。本文首先介绍现有自动测试系统存在的不足;然后讨论人工智能技术在用于监控的自动测试系统——BIT装置中的不同应用类型和基本的开发思想;最后通过描述基于规则专家系统的主要框架,分析用于维护的经验专家系统的优缺点,并在此基础上讨论集成诊断专家系统的设计思想、主要特点和当前面临的困难。
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关键词
自动测试设备
人工智能
专家系统
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Keywords
ATE, UUT, BIT, Expert Systems, Integrated-Diagnosis.
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分类号
TP274
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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题名90年代测控系统的主导总线
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作者
王珏
王永琳
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机构
航空航天工业部八○九所
机电部华东计算技术研究所
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出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
1993年第4期72-77,共6页
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文摘
本文首先从系统集成和制造集团规模等几方面同STD总线相比较,说明VME或MultibusⅡ为什么在90年代测控领域里将处于主导地位;然后描述VXI在90年代对自动测试设备之影响以及VXI的主要体系结构;最后,本文讨论VME和MultibusⅡ的一些应用特点以及Futurebus比VME和MultibusⅡ更优越的一些性能。
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关键词
数据总线
监视控制
总线
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Keywords
STD bus, VMEbus, VXIbus, Multibus Ⅱ, Futurebus.
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分类号
TP336
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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