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GaAs器件寿命试验及其方法比较 被引量：3
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作者 崔晓英 《电子产品可靠性与环境试验》 2009年第B10期80-85,共6页
本文介绍了加速寿命试验方法的理论基础,并针对GaAs器件概述了几种常用的寿命试验方法及其数据处理模型,在阐述了加速寿命试验的实施过程后,对几种寿命试验方法进行了比较,并明确其各自的优缺点,指出研究既快速又准确的加速寿命测试方... 本文介绍了加速寿命试验方法的理论基础,并针对GaAs器件概述了几种常用的寿命试验方法及其数据处理模型,在阐述了加速寿命试验的实施过程后,对几种寿命试验方法进行了比较,并明确其各自的优缺点,指出研究既快速又准确的加速寿命测试方法对于GaAs PHEMT器件的可靠性保证具有非常重要的意义。 展开更多
关键词 GAAS 可靠性 加速寿命试验 寿命评估
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