T2000 SiP测试方案介绍 被引量：1

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作者 过海夏 《电子工业专用设备》 2010年第3期39-42,46,共5页

随着SiP系统集成封装越来越广泛的应用,SiP在ATE上的测试面临诸多挑战。通过各种Module的灵活搭配,ADVANTEST T2000测试系统可以提供针对SiP芯片级封装的各个die/chip的功能特性测试,在一个测试平台上完成整个测试的解决方案。并且T200... 随着SiP系统集成封装越来越广泛的应用,SiP在ATE上的测试面临诸多挑战。通过各种Module的灵活搭配,ADVANTEST T2000测试系统可以提供针对SiP芯片级封装的各个die/chip的功能特性测试,在一个测试平台上完成整个测试的解决方案。并且T2000架构凭借灵活的开放式框架,丰富的测试资源,高效的并行测试构架,人性化的操作界面,以及先进的测试理念为SiP测试提供了更好的低成本解决方案。 展开更多

关键词 SIP 系统集成封装 T2000

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用代码分析技术对ATE应用程序的自动分析

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作者 周震一 赵峰 李金铁 《信息技术》 2009年第5期107-110,共4页

在不少过程化的IC ATE测试应用程序中,测试的数据条件往往与测试算法紧密耦合,使得程序平台转换的工作严重依赖人工的阅读理解。文中提出了一种新途径,将软件反向工程领域中基于概念的源代码分析技术引入到测试程序的转换工作中,对于某... 在不少过程化的IC ATE测试应用程序中,测试的数据条件往往与测试算法紧密耦合,使得程序平台转换的工作严重依赖人工的阅读理解。文中提出了一种新途径,将软件反向工程领域中基于概念的源代码分析技术引入到测试程序的转换工作中,对于某种过程化C语言测试程序,在一定程度上实现测试条件等信息的自动提取。 展开更多

关键词 ATE 程序转换 代码分析 概念

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着眼未来的 LCD 驱动芯片测试技术

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作者 宗伟 《电子工业专用设备》 2005年第8期48-51,共4页

概要:近年来,随着彩屏手机、PDA和家用液晶显示器的推广,国内各大半导体设计公司和生产厂商都开始着眼于LCD相关IC的设计和生产。从测试的角度来讲,高速发展的LCD驱动芯片对其所需要的测试环境也在不断提出更高的要求,着重介绍怎样针对... 概要:近年来,随着彩屏手机、PDA和家用液晶显示器的推广,国内各大半导体设计公司和生产厂商都开始着眼于LCD相关IC的设计和生产。从测试的角度来讲,高速发展的LCD驱动芯片对其所需要的测试环境也在不断提出更高的要求,着重介绍怎样针对LCD驱动芯片的发展趋势提供评价和量产所需要的测试平台。 展开更多

关键词 RSDS Mini-LVDS MDGT TFT Source DRIVER

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T2000 GSMF-下一代低成本开放架构测试解决方案

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作者 周震一 《电子工业专用设备》 2008年第5期54-56,共3页

近年来IC工业的快速发展对于自动测试设备(ATE)在架构、成本等方面提出了挑战。面对需求,ADVANTEST提出了开放架构测试平台的标准----OPENSTAR以及基于此标准的T2000SoC测试系统,其中T2000GSMF是最新发布的低成本的ATE解决方案。

关键词 自动测试设备 开放架构 T2000 GSMF

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LCD Driver测试技术

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作者 张明铭 《电子工业专用设备》 2006年第2期39-42,共4页

近年来随着彩屏手机、PDA等移动终端的普及,液晶电视等平板显示器件的推广,液晶显示器已经逐渐取代CRT成为主流的显示器件。LCDDriverIC作为液晶显示器的重要部件,需求量也日益增大。国内目前很多生产设计厂商已经开始相关产品的开发和... 近年来随着彩屏手机、PDA等移动终端的普及,液晶电视等平板显示器件的推广,液晶显示器已经逐渐取代CRT成为主流的显示器件。LCDDriverIC作为液晶显示器的重要部件,需求量也日益增大。国内目前很多生产设计厂商已经开始相关产品的开发和生产。就LCDDriverIC的特点,介绍应用ATE(AutomaticTestEquipment)对其进行测试的方法。 展开更多

关键词 自动化测试仪 伽马曲线 无源矩阵 有源矩阵 晶圆测试 最终测试

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用逻辑测试系统产生模拟信号的技术

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《集成电路应用》 2001年第2期19-22,共4页

SOC的测试需要几十～几百MHz的模拟信号,过去要产生这样的信号,需要使用可以产生任意波形的信号发生器,本文将介绍种不使用任意波形发生器就可以产生高速模拟信号的技术。即通过在测试板上对SOC测试系统输出的逻辑信号进行加法运算来产... SOC的测试需要几十～几百MHz的模拟信号,过去要产生这样的信号,需要使用可以产生任意波形的信号发生器,本文将介绍种不使用任意波形发生器就可以产生高速模拟信号的技术。即通过在测试板上对SOC测试系统输出的逻辑信号进行加法运算来产生高速模拟合成信号,由于这种信号合成是在被测芯片近端进行的,所以,这种信号具有不失真的特点。另外,采用的是在测试板上增加加法器的方法,可以降低测试成本,本文将介绍使用16通道的功率分配器和SOC测试系统T6672对本方法进行可行性验证及测试结果。 展开更多

关键词 逻辑测试系统 模拟信号 集成电路

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OPENSTAR^(TM) ATE及第三方测试模块开发

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作者 周震一 《集成电路应用》 2006年第9期53-54,共2页

介绍开放架构 ATE 的标准——OPENSTAR^(TM),并探讨测试模块的概念及其开发整合的流程。

关键词 测试模块 ATE 第三方 开发 测试平台 系统整合 TEST 即插即用 分工协作 测试流程

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LCD Driver IC测试方法及其对测试系统提出的挑战

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作者 宗伟 《电子设计技术 EDN CHINA》 2004年第4期122-122,124,125,共3页

LCD显示器件在中国已有二十多年的发展历程,已经从最初的以数字显示为主转变为以点阵字符、图形显示为主.LCD显示设备以其低电压驱动、微小功耗、能够与CMOS电路和LSI直接匹配、具有极薄的扁平结构、可以在极亮的环境光下使用、工艺简... LCD显示器件在中国已有二十多年的发展历程,已经从最初的以数字显示为主转变为以点阵字符、图形显示为主.LCD显示设备以其低电压驱动、微小功耗、能够与CMOS电路和LSI直接匹配、具有极薄的扁平结构、可以在极亮的环境光下使用、工艺简单等等特点成为了极有发展前景的显示器件. 展开更多

关键词 液晶显示器 LCD 驱动集成电路 动态电流测试 功能测试 色阶测试

原文传递

不断发展的闪存及与之对应的测试方案 被引量：1

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作者 蔡玥 《中国集成电路》 2004年第9期61-65,52,共6页

关键词 市场发展 高速增长 拉动 移动电话 半导体市场 需求 存储数据 闪存 应用程序 个人计算机

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MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案

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作者 宋子凯 《中国集成电路》 2005年第3期51-54,共4页

当前,集成电路的生产趋向不仅单位面积的集成度一再提高,器件封装更向空间发展。主要的存储器生产厂都将采用多芯片封装(MCP)形式作为未来存储器件封装的重点发展方向之一。本文着重阐述针对越来越大的多芯片封装存储器大规模量产测试需... 当前,集成电路的生产趋向不仅单位面积的集成度一再提高,器件封装更向空间发展。主要的存储器生产厂都将采用多芯片封装(MCP)形式作为未来存储器件封装的重点发展方向之一。本文着重阐述针对越来越大的多芯片封装存储器大规模量产测试需要,作为占据测试领域领先地位的爱德万测试ADVANTEST所提供的,涵盖从设计端到最终成品测试整个产品链的业界最尖端的完整解决方案。 展开更多

关键词 量产 大规模 重点发展 存储器生产 产品链 解决方案 领先地位 测试 存储器件 尖端

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跨越高速存储器测试之颠——DDR特性以及相对应的测试解决方案

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作者 赵毅 《中国集成电路》 2004年第12期51-54,共4页

关键词 SDRAM DDR 高速存储 内存技术 PC 计算机 行数据 测试解决方案 下降沿 数据速率

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面向芯片设计的测试新理念 被引量：2

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作者 李金铁 刘旸 《中国集成电路》 2007年第3期68-72,共5页

SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新... SoC芯片的发展使集成电路测试重要性越来越明显,传统的测试概念已经不适用现在和将来的集成电路测试需求。本文将详细分析这个问题,列举在集成电路测试中面临的问题,引出一种面向芯片设计的新的测试理念,并介绍基于这一理念的一系列新的解决方案,分别对应快速响应市场的需求和提升新产品品质的需求。 展开更多

关键词 面向芯片设计的测试 EDA—Linkage 快速响应市场 提升新产品品质

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HDMI芯片的测试 被引量：2

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作者 刘旸 《电子工业专用设备》 2008年第3期43-46,共4页

HDMI是高清晰度多媒体接口(High-Definition Multimedia Interface)的简称。作为新一代的数字视频/音频传输标准,HDMI理论上可以支持4Gbps的数据传输率,足以支持2.25G*3bps的数据传输要求,所以已经被广泛的应用于HDTV等数字消费类产品。... HDMI是高清晰度多媒体接口(High-Definition Multimedia Interface)的简称。作为新一代的数字视频/音频传输标准,HDMI理论上可以支持4Gbps的数据传输率,足以支持2.25G*3bps的数据传输要求,所以已经被广泛的应用于HDTV等数字消费类产品。HDMI Source芯片的测试技术,包括在性能评价测试方法和大规模量产测试的解决方案。 展开更多

关键词 高清晰度多媒体接口 最小化传输差分信号 高速信号测试

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T6372——引领LCD Driver IC测试新潮流

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作者 赵毅 《电子工业专用设备》 2006年第8期46-49,共4页

主要介绍了液晶显示器件的发展趋势,以及液晶显示器件对测试的挑战。介绍了爱德万测试公司的新品T6372的主要特性,及其针对LCD特性所提供的测试解决方案。

关键词 LCD DRIVER IC RSDS PPDS FP—LVDS:

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非接触IC卡芯片的低成本测试

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作者 刘旸 《中国集成电路》 2004年第10期45-48,共4页

随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有... 随着RFID技术和规范的不断成熟,我国的第二代身份证卡上开始使用基于RFID技术的非接触IC卡芯片。对于设计验证和大规模量产时面临的测试问题,本文介绍了一种非接触IC卡芯片低成本测试的解决方案。与普通的测试方法要求IC测试仪(ATE)有比较昂贵的混合信号测试部件来发送/识别RF信号相比,该解决方案只需要ATE有一般的数字电路的测试功能,结合RFID应用模块,就可以在保证测试精度和稳定性的前提下实现对芯片要求的所有测试。其最大的优点是大大降低ATE本身的硬件成本,测试时间很短,并且有很好的灵活性。 展开更多

关键词 非接触 混合信号测试 芯片 IC 成本 财政管理

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