期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
3
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
基于GARCH模型的IGBT寿命预测
被引量:
17
1
作者
白梁军
黄萌
+3 位作者
饶臻
潘尚智
查晓明
刘国友
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2020年第18期5787-5795,共9页
绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)在新能源并网、电力传输等领域中得到了广泛应用,其可靠性引起了人们关注和重视。针对IGBT模块的可靠性分析和剩余使用寿命问题,文中提出一种利用加速老化数据对IGBT模块老化...
绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)在新能源并网、电力传输等领域中得到了广泛应用,其可靠性引起了人们关注和重视。针对IGBT模块的可靠性分析和剩余使用寿命问题,文中提出一种利用加速老化数据对IGBT模块老化模型建立方法,并利用建立的老化模型对IGBT模块的剩余使用寿命进行预测。首先介绍IGBT的失效机理,结合现有的加速老化数据,确定的以集电极-发射极通态压降作为剩余使用寿命预测依据。建立基于GARCH模型的IGBT老化寿命模型,通过3组IGBT模块加速老化数据对剩余寿命预测,验证所提方法的有效性。
展开更多
关键词
IGBT模块
RUL预测
失效机理
GARCH模型
下载PDF
职称材料
高功率密度3600A/4500V压接型IGBT研制
被引量:
15
2
作者
刘国友
窦泽春
+2 位作者
罗海辉
覃荣震
黄建伟
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2018年第16期4855-4862,共8页
该文基于柔性直流输电对大容量压接型绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)的应用需求,首创大尺寸方形陶瓷压接外壳、21×21mm2大尺寸高性能IGBT及其配套快速恢复二极管(fast recovery diode,FRD)芯片、...
该文基于柔性直流输电对大容量压接型绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)的应用需求,首创大尺寸方形陶瓷压接外壳、21×21mm2大尺寸高性能IGBT及其配套快速恢复二极管(fast recovery diode,FRD)芯片、独特结构的压接子单元,大幅度降低了芯片损耗、提高了单芯片电流容量;解决压接封装中的压力均衡、芯片均流等关键技术难题,成功研制高功率密度3600A/4500V压接型IGBT,具有导通损耗低、开关能力强、双面散热、失效短路的优点,功率容量与功率密度提高到一个新的水平,满足柔性直流输电应用需求。
展开更多
关键词
高功率密度
压接型
绝缘栅双极晶体管
快速恢复二极管
下载PDF
职称材料
智能电网用高功率密度1500A/3300V绝缘栅双极晶体管模块
被引量:
19
3
作者
刘国友
黄建伟
+2 位作者
覃荣震
罗海辉
朱利恒
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2016年第10期2784-2792,共9页
基于双扩散金属氧化物半导体(diffused metal-oxide semiconductor,DMOS)元胞设计技术,针对智能电网的需求,引入"电子注入增强"以及台面栅技术,优化了3 300 V绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)芯片...
基于双扩散金属氧化物半导体(diffused metal-oxide semiconductor,DMOS)元胞设计技术,针对智能电网的需求,引入"电子注入增强"以及台面栅技术,优化了3 300 V绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)芯片的整体性能。基于该芯片制造出的1 500 A/3 300 V高功率密度IGBT模块,相对于优化前其额定电流从1 200 A上升到了1 500 A(上升了25%),同时导通压降从2.8 V下降到了2.4 V(下降了14%),最高工作结温从125℃提升到150℃。反偏安全工作区(reverse biased safe operation area,RBSOA)与短路安全工作区(short-circuit safe operation area,SCSOA)测试显示,该模块能在集电极电压为2 000 V的情况下关断3 000 A的电流,并且在栅电压为15 V、集电极电压为2 000 V的短路条件下的安全工作时间超过10?s。测试结果显示,该模块导通压降及开关损耗性能与同类型国际主流产品相当。
展开更多
关键词
绝缘栅双极晶体管
智能电网
电子注入增强
台面栅
IGBT模块
短路安全工作区
下载PDF
职称材料
题名
基于GARCH模型的IGBT寿命预测
被引量:
17
1
作者
白梁军
黄萌
饶臻
潘尚智
查晓明
刘国友
机构
武汉大学电
气
与自动化学院
新型
功率
半导体器件
国家
重点
实验室
(
株洲
中
车
时
代电
气
股份
有限公司
)
出处
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2020年第18期5787-5795,共9页
基金
国家自然科学基金重点项目(51637007)。
文摘
绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)在新能源并网、电力传输等领域中得到了广泛应用,其可靠性引起了人们关注和重视。针对IGBT模块的可靠性分析和剩余使用寿命问题,文中提出一种利用加速老化数据对IGBT模块老化模型建立方法,并利用建立的老化模型对IGBT模块的剩余使用寿命进行预测。首先介绍IGBT的失效机理,结合现有的加速老化数据,确定的以集电极-发射极通态压降作为剩余使用寿命预测依据。建立基于GARCH模型的IGBT老化寿命模型,通过3组IGBT模块加速老化数据对剩余寿命预测,验证所提方法的有效性。
关键词
IGBT模块
RUL预测
失效机理
GARCH模型
Keywords
IGBT power module
remaining useful life prediction
failure mechanism
GRACH model
分类号
TM46 [电气工程—电器]
下载PDF
职称材料
题名
高功率密度3600A/4500V压接型IGBT研制
被引量:
15
2
作者
刘国友
窦泽春
罗海辉
覃荣震
黄建伟
机构
新型
功率
半导体器件
国家
重点
实验室
(
株洲
中
车
时
代电
气
股份
有限公司
)
出处
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2018年第16期4855-4862,共8页
文摘
该文基于柔性直流输电对大容量压接型绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)的应用需求,首创大尺寸方形陶瓷压接外壳、21×21mm2大尺寸高性能IGBT及其配套快速恢复二极管(fast recovery diode,FRD)芯片、独特结构的压接子单元,大幅度降低了芯片损耗、提高了单芯片电流容量;解决压接封装中的压力均衡、芯片均流等关键技术难题,成功研制高功率密度3600A/4500V压接型IGBT,具有导通损耗低、开关能力强、双面散热、失效短路的优点,功率容量与功率密度提高到一个新的水平,满足柔性直流输电应用需求。
关键词
高功率密度
压接型
绝缘栅双极晶体管
快速恢复二极管
Keywords
high power density
press-pack
insulated gatebipolar transistor (IGBT)
fast recovery diode (FRD)
分类号
TM23 [一般工业技术—材料科学与工程]
下载PDF
职称材料
题名
智能电网用高功率密度1500A/3300V绝缘栅双极晶体管模块
被引量:
19
3
作者
刘国友
黄建伟
覃荣震
罗海辉
朱利恒
机构
新型
功率
半导体器件
国家
重点
实验室
(
株洲
南
车
时
代电
气
股份
有限公司
)
出处
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2016年第10期2784-2792,共9页
文摘
基于双扩散金属氧化物半导体(diffused metal-oxide semiconductor,DMOS)元胞设计技术,针对智能电网的需求,引入"电子注入增强"以及台面栅技术,优化了3 300 V绝缘栅双极晶体管(insulated gate bipolar transistor,IGBT)芯片的整体性能。基于该芯片制造出的1 500 A/3 300 V高功率密度IGBT模块,相对于优化前其额定电流从1 200 A上升到了1 500 A(上升了25%),同时导通压降从2.8 V下降到了2.4 V(下降了14%),最高工作结温从125℃提升到150℃。反偏安全工作区(reverse biased safe operation area,RBSOA)与短路安全工作区(short-circuit safe operation area,SCSOA)测试显示,该模块能在集电极电压为2 000 V的情况下关断3 000 A的电流,并且在栅电压为15 V、集电极电压为2 000 V的短路条件下的安全工作时间超过10?s。测试结果显示,该模块导通压降及开关损耗性能与同类型国际主流产品相当。
关键词
绝缘栅双极晶体管
智能电网
电子注入增强
台面栅
IGBT模块
短路安全工作区
Keywords
insulated gate bipolar transistor(IGBT)
smart grid
electron injection enhanced
terrace gate
IGBT module
short circuit safe operation area
分类号
TN322 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于GARCH模型的IGBT寿命预测
白梁军
黄萌
饶臻
潘尚智
查晓明
刘国友
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2020
17
下载PDF
职称材料
2
高功率密度3600A/4500V压接型IGBT研制
刘国友
窦泽春
罗海辉
覃荣震
黄建伟
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2018
15
下载PDF
职称材料
3
智能电网用高功率密度1500A/3300V绝缘栅双极晶体管模块
刘国友
黄建伟
覃荣震
罗海辉
朱利恒
《中国电机工程学报》
EI
CSCD
北大核心
2016
19
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部