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集成电路符合性和使用性测试方法研究与实践
1
作者
周勇
张全胜
刘洋
《电子质量》
2013年第11期24-30,36,共8页
该文针对军用集成电路失效率高、上线质量难以控制的实际情况,探讨了集成电路装配前的质量控制重点,结合实际案例,提出了侧重于符合性和使用性要求的两种测试方法,并在某型器件失效分析中进行应用,以指导集成电路的质量控制工作。
关键词
集成电路
符合性测试
使用性测试
失效分析
质量控制
下载PDF
职称材料
题名
集成电路符合性和使用性测试方法研究与实践
1
作者
周勇
张全胜
刘洋
机构
武汉中原电子集团有限公司计量检测中心
总参
某部
驻
七一
零
厂
军代室
出处
《电子质量》
2013年第11期24-30,36,共8页
文摘
该文针对军用集成电路失效率高、上线质量难以控制的实际情况,探讨了集成电路装配前的质量控制重点,结合实际案例,提出了侧重于符合性和使用性要求的两种测试方法,并在某型器件失效分析中进行应用,以指导集成电路的质量控制工作。
关键词
集成电路
符合性测试
使用性测试
失效分析
质量控制
Keywords
Integrated circuit
Conformance testing
applicability testing
Failure Analysis
The quality control
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
集成电路符合性和使用性测试方法研究与实践
周勇
张全胜
刘洋
《电子质量》
2013
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