期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
多层瓷介电容器失效模式和机理 被引量：13
1
作者 刘欣 李萍 蔡伟 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2011年第7期72-75,80,共5页
系统介绍了开路、短路和电参数漂移这三种主要的MLCC失效模式,以及介质层内空洞和电极结瘤、介质层分层、热应力和机械应力引起介质层裂纹、其他微观机理等五种主要的失效机理。针对MLCC的失效分析技术,从生产工艺和使用设计上提出了预... 系统介绍了开路、短路和电参数漂移这三种主要的MLCC失效模式,以及介质层内空洞和电极结瘤、介质层分层、热应力和机械应力引起介质层裂纹、其他微观机理等五种主要的失效机理。针对MLCC的失效分析技术,从生产工艺和使用设计上提出了预防MLCC失效的措施。 展开更多
关键词 多层瓷介电容器 失效分析 综述 失效模式 失效机理
下载PDF
固体电解质钽电容器介质膜晶化机理及其失效分析 被引量：5
2
作者 刘欣 方文啸 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2011年第2期65-67,共3页
从场致晶化和热致晶化的角度对固体电介质钽电容器介质膜晶化现象和机理进行了讨论,并结合CA45—H—35V—470μF固体电解质钽电容器的失效分析对介质膜晶化引起电容器失效进行了进一步的说明。采用筛选、物理分析和降额使用的方法,可有... 从场致晶化和热致晶化的角度对固体电介质钽电容器介质膜晶化现象和机理进行了讨论,并结合CA45—H—35V—470μF固体电解质钽电容器的失效分析对介质膜晶化引起电容器失效进行了进一步的说明。采用筛选、物理分析和降额使用的方法,可有效避免介质膜晶化引起的钽电解电容器失效。 展开更多
关键词 固体电解质钽电容器 介质膜 晶化 失效分析
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部