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题名一种优化芯片测试时间的方法
被引量：4
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作者
许梦龙
鲁小妹
赵来钖
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机构
射频识别芯片检测技术北京市重点实验室北京中电华大电子设计有限责任公司
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出处
《集成电路应用》
2020年第2期39-41,共3页
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基金
北京市科技企业技术创新课题项目
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文摘
为了减少芯片测试时间,降低芯片测试成本,介绍一种基于智能卡芯片的测试时间优化的方法。通过分析大生产的测试数据,对测试流程、测试程序以及测试向量进行优化,在保证质量的前提下,对测试项进行优化,提高测试效率,测试时间减少19.623%,从而有效降低成本,提高生产能力。
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关键词
集成电路制造
测试成本
流程优化
芯片测试
自动化测试设备
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Keywords
IC manufacturing
test cost
process optimization
chip test
automatic test equipment
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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