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用于位移精密测量的光外差马赫-泽德干涉仪
被引量:
5
1
作者
郭广平
计欣华
+2 位作者
秦玉文
杜家吉
王自明
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
1997年第6期19-22,共4页
本文介绍了我们研制的用于位移精密测量的光外差马赫-泽德干涉仪。由于在光路设计中采用了共光路的布置,共模抑制技术得以实现,环境干扰产生的噪声得到很好的消除,相位检测的稳定性和精度大大提高。使用该干涉仪测量了一台在光学相...
本文介绍了我们研制的用于位移精密测量的光外差马赫-泽德干涉仪。由于在光路设计中采用了共光路的布置,共模抑制技术得以实现,环境干扰产生的噪声得到很好的消除,相位检测的稳定性和精度大大提高。使用该干涉仪测量了一台在光学相移器内PZT微位移驱动装置的电压-位移关系。测量结果具有良好的线性和重复性,与预期相符。根据测量数据分析,该光外差干涉仪具有3nm的位移测量精度。
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关键词
光外差
干涉仪
共光路
位移测量
纳米
原文传递
题名
用于位移精密测量的光外差马赫-泽德干涉仪
被引量:
5
1
作者
郭广平
计欣华
秦玉文
杜家吉
王自明
机构
北京航空材料研究院
六
室
天津大学
力
学系
北京航空材料研究院
六
室
出处
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
1997年第6期19-22,共4页
文摘
本文介绍了我们研制的用于位移精密测量的光外差马赫-泽德干涉仪。由于在光路设计中采用了共光路的布置,共模抑制技术得以实现,环境干扰产生的噪声得到很好的消除,相位检测的稳定性和精度大大提高。使用该干涉仪测量了一台在光学相移器内PZT微位移驱动装置的电压-位移关系。测量结果具有良好的线性和重复性,与预期相符。根据测量数据分析,该光外差干涉仪具有3nm的位移测量精度。
关键词
光外差
干涉仪
共光路
位移测量
纳米
Keywords
optical heterodyne, interferometer, common path, displacement measurement.
分类号
TH822 [机械工程—仪器科学与技术]
TH744.3 [机械工程—精密仪器及机械]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用于位移精密测量的光外差马赫-泽德干涉仪
郭广平
计欣华
秦玉文
杜家吉
王自明
《光学技术》
EI
CAS
CSCD
1997
5
原文传递
已选择
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参考文献
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