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X射线荧光光谱法测定土壤和水系沉积物中碳和氮等36个主次痕量元素 被引量：71
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作者 于波 严志远 +2 位作者 杨乐山 王瑞敏 李小莉 《岩矿测试》 CAS CSCD 2006年第1期74-78,共5页
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用ARL ADVANT’XP+型X射线荧光光谱仪对土壤和水系沉积物样品中C、N、Na2O、MgO、A l2O3、SiO2、P、S、C l、K2O、CaO、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、N i、Cu、Zn、Ga、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb... 采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用ARL ADVANT’XP+型X射线荧光光谱仪对土壤和水系沉积物样品中C、N、Na2O、MgO、A l2O3、SiO2、P、S、C l、K2O、CaO、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、N i、Cu、Zn、Ga、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Ba、As、Br、Hf、La、Ce和Nd等36个组分进行测定。重点研究了C、N等元素的测定条件和痕量元素的背景选择和谱线重叠校正问题。使用经验系数法和康普敦散射作内标校正基体效应。经标准物质校验,结果与标准值吻合。方法的检出限、精密度和准确度能满足多目标地球化学调查样品的分析要求。用GBW 07404土壤国家标准物质进行测试,12次重复测定的精密度(RSD),除N和C l<11.0%,其余各组分均<6.0%。 展开更多
关键词 碳 氮 土壤和水系沉积物 X射线荧光光谱法 粉末样品压片 背景位置选择
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