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交错采样技术中的失配误差建模与估计 被引量:2
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作者 刘洋 刁节涛 +2 位作者 王义楠 王玺 刘虎生 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2015年第12期132-135,共4页
受限于目前的半导体制备工艺,单片ADC无法在保证高分辨率的同时满足高采样率的要求,因此利用多片ADC并行阵列的时间交错采样技术是实现高速高精度采样的一种有效方法。但是,受制于各并行通道协同工作时,各路器件的固有差异和信号传输的... 受限于目前的半导体制备工艺,单片ADC无法在保证高分辨率的同时满足高采样率的要求,因此利用多片ADC并行阵列的时间交错采样技术是实现高速高精度采样的一种有效方法。但是,受制于各并行通道协同工作时,各路器件的固有差异和信号传输的不一致所带来的失配误差,TIADC(Time-interleaved ADC)的性能也受到了极大的影响。文中首先分析了各类通道失配误差(包括偏置、增益和时延失配误差)的来源、特征以及它们对TIADC系统性能造成的影响。其次,本文引入一种有效的误差识别算法,通过提取出输出频谱中特定频点处的失真谱线,利用这些失配谐波与误差参数之间互为傅里叶变换对的关系,得到各类失配误差的估算数值,为后续的误差补偿的准确性提供有力的保障。 展开更多
关键词 时间交错 数据采集 通道失配 误差识别
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