基于ARM的数字集成电路测试系统的研究 被引量：5

1

作者 张建文 《中国新技术新产品》 2018年第9期21-22,共2页

为了丰富数字集成电路测试系统功能,实现上位机数据独立传送,本文采用ARM控制器,设计一套数字集成电路测试系统。首先,对ARM处理器进行简要概述,其次,明确设计目标,提出系统设计方案,最后,制定系统调试步骤,并对其调试结果做出分析。调... 为了丰富数字集成电路测试系统功能,实现上位机数据独立传送,本文采用ARM控制器,设计一套数字集成电路测试系统。首先,对ARM处理器进行简要概述,其次,明确设计目标,提出系统设计方案,最后,制定系统调试步骤,并对其调试结果做出分析。调试结果表明:本文提出的数字集成电流测试系统设计方案满足设计要求。 展开更多

关键词 ARM 数字集成电路测试 软件架构

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一种精确测量MOSFET晶圆导通电阻的方法 被引量：4

2

作者 顾汉玉 武乾文 《电子与封装》 2014年第9期17-20,共4页

导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET晶圆测试中的一个难点。要实现毫欧级导通电阻的测试,必须用开尔文测试法;但实际的MOSFET晶圆表面只有两个电极(G、S),另外一个电极(D)在圆片的背面,通常只能将开尔文的短接点接在承载圆片的吸盘边... 导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET晶圆测试中的一个难点。要实现毫欧级导通电阻的测试,必须用开尔文测试法;但实际的MOSFET晶圆表面只有两个电极(G、S),另外一个电极(D)在圆片的背面,通常只能将开尔文的短接点接在承载圆片的吸盘边缘,无法做到真正的开尔文连接,由于吸盘接触电阻无法补偿而且变化没有规律,导致导通电阻无法精确测量。介绍了一种借用临近管芯实现真正开尔文测试的方法,可以实现MOSFET晶圆毫欧级导通电阻准确稳定的测量。 展开更多

关键词 MOS管 导通电阻 开尔文连接 自动测试设备 待测器件 晶圆测试 管芯

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一种快速测量晶体管共射极直流放大倍数(HFE)的方法 被引量：2

3

作者 顾汉玉 黎富华 刘慧琳 《电子测试》 2016年第5期49-53,共5页

晶体管是一种常用的半导体分立器件,共射极直流放大倍数(HFE)是其重要的一个参数,定义为指定集电极和发射极之间的电压(Uce)下、指定集电极电流(Ic)时和基极电流(Ib)的比值。晶体管是电流控制型器件,为达到指定Ic,在测量时通常采用扫描... 晶体管是一种常用的半导体分立器件,共射极直流放大倍数(HFE)是其重要的一个参数,定义为指定集电极和发射极之间的电压(Uce)下、指定集电极电流(Ic)时和基极电流(Ib)的比值。晶体管是电流控制型器件,为达到指定Ic,在测量时通常采用扫描法:逐步增加Ib,测量Ic的值,当到达指定值时停止扫描,计算比值。这种方法效率很低,本文介绍了一种快速测试的方法,借助ATE上参数测量单元(PMU)的加流功能,一次就可以快速测量出放大倍数。 展开更多

关键词 双极型晶体管(BJT) 共射极放大倍数(HFE) 自动测试设备(ATE) 参数测量单元(PMU) 开尔文测试(Kelvin test)

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低导通电阻MOSFET测试中的自动校验技术 被引量：2

4

作者 顾汉玉 廖远光 《微型机与应用》 2013年第5期88-90,共3页

导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET测试中的一个难点。介绍了一种用于低导通电阻MOSFET测试过程中自动校验测试系统的方法。通过在DUT板上增加高精度低阻值标准电阻测试回路的方法,在正式测试前对测试系统进行自动校验,校验合格后... 导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET测试中的一个难点。介绍了一种用于低导通电阻MOSFET测试过程中自动校验测试系统的方法。通过在DUT板上增加高精度低阻值标准电阻测试回路的方法,在正式测试前对测试系统进行自动校验,校验合格后继续对MOS管进行测试,否则将停止测试;避免了由于自动测试设备(ATE)、DUT板、金手指等测试单元的精度漂移、器件老化等因素导致测试不准确的情况,保证了产品的测试精度,对提升测试的品质具有重要意义。 展开更多

关键词 MOS管 导通电阻 自动测试设备 待测器件

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晶圆测试中BIN分设置的一种应用 被引量：1

5

作者 顾汉玉 张立荣 《电子测试》 2012年第8期68-73,共6页

本文介绍了一种集成电路晶圆测试过程中自动测试设备测试程序的BIN分设置的改善方案。通过设置多个PASSBIN,巧妙地应用了自动测试设备的BIN分类功能,从晶圆测试的汇总结果中直接得到关键参数的分布规律,避免了原来需要通过分析自动测试... 本文介绍了一种集成电路晶圆测试过程中自动测试设备测试程序的BIN分设置的改善方案。通过设置多个PASSBIN,巧妙地应用了自动测试设备的BIN分类功能,从晶圆测试的汇总结果中直接得到关键参数的分布规律,避免了原来需要通过分析自动测试设备记录的详细数据才能得到分布规律的情况,省去了集成电路工程晶圆需要进行二次测试才能进行分类的步骤,对缩短集成电路工程品的测试周期、加强量产产品的工艺监控、提升晶圆测试的品质具有重要意义。 展开更多

关键词 集成电路 晶圆测试(CP) 自动测试设备(ATE) BIN分设置

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用单片机实现数码管多种颜色显示 被引量：1

6

作者 薛克瑞 顾汉玉 《电子测试》 2017年第7X期31-32,共2页

传统的LED数码管都是单色(如红色或绿色)的,随着蓝光LED芯片的普及,单颗彩色LED成品已经得到了广泛的应用,但成品数码管还没有彩色的;在一些特殊场合,需要数码管显示多种颜色。基于实际需求,本文设计了一种单片机方案,实现了LED数码管... 传统的LED数码管都是单色(如红色或绿色)的,随着蓝光LED芯片的普及,单颗彩色LED成品已经得到了广泛的应用,但成品数码管还没有彩色的;在一些特殊场合,需要数码管显示多种颜色。基于实际需求,本文设计了一种单片机方案,实现了LED数码管的任意颜色显示。 展开更多

关键词 LED 单片机 数码管

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用吉时利源表实现二极管特性曲线测试

7

作者 薛克瑞 顾汉玉 《电子测试》 2017年第8X期25-27,共3页

二极管的伏安特性曲线直观地反应了器件的性能,传统上采用阴极射线管(CRT)的晶体管图形仪进行测试,设备体积大、能耗大,测试精度低,人工读数的方式还会带来无法避免的主观差异。随着测试技术和计算机技术的发展,可以采用数字源表加控制... 二极管的伏安特性曲线直观地反应了器件的性能,传统上采用阴极射线管(CRT)的晶体管图形仪进行测试,设备体积大、能耗大,测试精度低,人工读数的方式还会带来无法避免的主观差异。随着测试技术和计算机技术的发展,可以采用数字源表加控制软件的方法实现二极管特性曲线的测试。本文介绍了具体的实现方法。 展开更多

关键词 晶体管 二极管 伏安特性 晶体管图示仪 ATE PMU 数字源表

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降低数字集成电路测试功耗的向量排序方法

8

作者 张建文 《电子测试》 2018年第2期38-39,35,共3页

分析研究测试数字集成电路期间产生的功耗问题,在此基础之上提出新的测试向量排序方式,希望能够将测试期间电路的翻转次数减低。按照测试特征以及电路结构等可以使该方法对输入影响度系数进行计算,在对故障覆盖率不产生影响的基础之上... 分析研究测试数字集成电路期间产生的功耗问题,在此基础之上提出新的测试向量排序方式,希望能够将测试期间电路的翻转次数减低。按照测试特征以及电路结构等可以使该方法对输入影响度系数进行计算,在对故障覆盖率不产生影响的基础之上对测试功效进行降低处理。通过试验可以看出,该种方式在实际测试期间能够至少降低47.24%的功耗,可以在测试中推广使用。 展开更多

关键词 数字集成电路 测试功耗 向量排序方法

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用于光通信系统的可调谐半导体激光器 被引量：1

9

作者 高萍 《无线互联科技》 2014年第7期37-37,共1页

可调谐激光器是DWDM系统及未来全光网络中的关键器件,提升了易升级、可重构光网络的智能性和动态性,在未来光通信领域具有重要的应用价值。在这种背景下,本文首先概述了可调协半导体激光器,进而提出了光通信系统可调谐半导体激光器的电... 可调谐激光器是DWDM系统及未来全光网络中的关键器件,提升了易升级、可重构光网络的智能性和动态性,在未来光通信领域具有重要的应用价值。在这种背景下,本文首先概述了可调协半导体激光器,进而提出了光通信系统可调谐半导体激光器的电路设计思路。 展开更多

关键词 光通信系统 可调谐 半导体 激光器 设计思路

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通信用大功率半导体激光器的温控系统

10

作者 高萍 《信息通信》 2014年第8期170-170,共1页

温控系统在半导体激光器运行中具有重要作用,基于温度控制技术主要应用在DFB结构中,其原理在于调整激光腔内温度,从而可以使之发射不同的波长。文章首先概述了通信用大功率半导体激光器温控系统,进而分析了两种开发模式。

关键词 大功率 半导体 激光器 温控系统 开发

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集成电路测试技术的应用研究

11

作者 刘炜 《通讯世界（下半月）》 2015年第8期103-103,共1页

随着我国科技的不断发展,集成电路在电子行业的应用越来越广泛。而集成电路是否能够大批量的生产投入市场,取决于集成电路的测试。集成电路的测试技术是检测集成电路质量好坏的有效手段,通过测试可以淘汰产品中的残次品,从而保证集成电... 随着我国科技的不断发展,集成电路在电子行业的应用越来越广泛。而集成电路是否能够大批量的生产投入市场,取决于集成电路的测试。集成电路的测试技术是检测集成电路质量好坏的有效手段,通过测试可以淘汰产品中的残次品,从而保证集成电路的成品率。集成电路测试技术的应用在电子行业已显得十分重要,只有测试技术的完善才能保证未来电子行业的发展。 展开更多

关键词 集成电路 测试技术 应用

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