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NiFe_2O_4/TiO_2纳米棒阵列薄膜光电化学性能和光催化性能研究 被引量：5
1
作者 高鑫 刘祥萱 +2 位作者 朱左明 谢拯 佘兆斌 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第9期935-942,共8页
用水热法制备一维有序纳米棒状TiO_2薄膜(TiO_2 NRAs),并采用浸渍沉积煅烧得到NiFe_2O_4/TiO_2 NRAs。借助SEM、TEM、XRD、Raman、XPS、UV-Vis等对样品的物相和形貌结构进行了表征,结果表明:NiFe_2O_4纳米颗粒均匀沉积在金红石相TiO_2 N... 用水热法制备一维有序纳米棒状TiO_2薄膜(TiO_2 NRAs),并采用浸渍沉积煅烧得到NiFe_2O_4/TiO_2 NRAs。借助SEM、TEM、XRD、Raman、XPS、UV-Vis等对样品的物相和形貌结构进行了表征,结果表明:NiFe_2O_4纳米颗粒均匀沉积在金红石相TiO_2 NRAs表面,使TiO_2光谱吸收范围拓展至可见光区。利用电化学工作站对其光电转换性能进行研究,发现NiFe_2O_4改性后的TiO_2在可见光下光电流响应显著增大,在电压-电流曲线和电流随时间开关灯变化中,NiFe_2O_4/TiO_2 NRAs的光电流密度分别是纯TiO_2 NRAs的12倍和8倍。NiFe_2O_4/TiO_2 NRAs可见光下降解偏二甲肼(UDMH)的效率是单纯TiO_2 NRAs降解率的3倍,并对光催化降解机理进行了探讨。 展开更多
关键词 TiO2纳米棒阵列 NiFe2O4/TiO2纳米棒阵列 光电化学性能 光催化
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浅议数显卡尺之细分误差
2
作者 段祥艳 《计量技术》 2014年第10期86-87,共2页
本文针对计量检定规程JJG 30-2012《通用卡尺》中新增的检定项目“细分误差”进行分析解读，并对数显卡尺的常见故障提出解决方法。
关键词 数显卡尺 细分误差 示值误差 传感器主栅
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卡尺常见故障产生原因及预防
3
作者 段祥艳 孟建谋 《计量技术》 2016年第8期76-78,共3页
卡尺是长度测量量具，通常被运用于外尺寸和内尺寸、盲孔、阶梯形孔（凹槽）等相关尺寸的测量，它对机械加工过程测量和产成品检验等起着关键的作用。本文作者对生产一线操作人员对卡尺使用情况进行了调研，结合计量检定人员丰富的工作... 卡尺是长度测量量具，通常被运用于外尺寸和内尺寸、盲孔、阶梯形孔（凹槽）等相关尺寸的测量，它对机械加工过程测量和产成品检验等起着关键的作用。本文作者对生产一线操作人员对卡尺使用情况进行了调研，结合计量检定人员丰富的工作经验，总结出卡尺一些常见故障产生的原因及解决方法。 展开更多
关键词 卡尺 示值误差 修理量 圆弧内量爪 检定项目
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