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题名基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究
被引量：9
- 1
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作者
刘媛媛
高剑
蒋常斌
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
北方工业大学
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出处
《电子测量技术》
2020年第4期116-120,共5页
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文摘
讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一性、专用性问题,缩短了开发周期。通过自动测试系统验证,MCU芯片并行测试实验中功能匹配测试、频率测试和参数测试可独立使用测试资源,实现了完全并行测试,与传统串行测试方法相比节约了测试时间,提高了芯片测试效率。
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关键词
微控制单元
并行测试
继电器矩阵
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Keywords
mcrocontroller unit(MCU)
parallel testing
relay matrix
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究
被引量：7
- 2
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作者
韩东
郭士瑞
高剑
李杰
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《电子测量技术》
2017年第6期47-52,共6页
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基金
北京市自然科学基金委员会-北京市科学技术研究院联合资助项目(L150009)
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文摘
为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本.验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化。测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构.提升了测试数据的可分析性。
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关键词
自动测试系统
二进制文件
测试数据标准化
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Keywords
ATE
binary file
STDF
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分类号
TN302
[电子电信—物理电子学]
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题名一种HDMI测试系统的设计与实现
被引量：4
- 3
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作者
高剑
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《电子测量技术》
2017年第5期99-103,共5页
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基金
北京市自然科学基金委员会-北京市科学技术研究院(L150009)资助项目
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文摘
高清晰度多媒体接口(HDMI)在数字多媒体领域中被广泛应用,由于其传输速度快,传统ATE无法直接测试。为此设计了一种针对HDMI的高速测试方法,开发了以芯片解码和同步校验为核心的功能测试模块,该模块可实现对HDMI传输数据的控制、分析、通信与监测。将模块嵌入到具备VXI总线的集成电路测试系统中,可实现较完整的功能和直流参数测试。测试实验提示,本方法稳定可靠,测试效率高。
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关键词
高清晰度多媒体接口
功能测试
自动测试系统
校验
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Keywords
high definition muhimedia interface（HDMl）
function test
automatic test equipment（ATE）
check
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分类号
TN06
[电子电信—物理电子学]
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题名电容式触摸屏感应芯片测试方法研究
被引量：3
- 4
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作者
高剑
张晨阳
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《电子测量技术》
2020年第5期156-160,共5页
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文摘
电容式触摸屏感应芯片由于具备接触感应特性,难以用自动测试系统直接测试,为此,设计了扩展电路与自动测试系统相结合的方法实现此类芯片测试。通过切换偏置电阻实现了芯片电容敏感度、感应频率及偏置电流的设置,并通过电容继电器矩阵控制调节触点电容,引起芯片输出波形的频率变化,用以高速计数器为核心的频率测量单元测试输出通道频率,从而实现了较完整的直流、交流和功能项的测试。测试实验提示,该方法稳定性好,易于实现模块化,适于并行测试,测试效率较高。
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关键词
电容式触摸屏
感应电路
自动测试系统
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Keywords
capacitive touch screen
induction circuit
automatic test equipment(ATE)
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于测试系统的测试向量工具设计研究
被引量：2
- 5
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作者
赵霞
高剑
李杰
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《电子测量技术》
2019年第6期12-16,共5页
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基金
北京市科学技术研究院萌芽项目(GS201821)资助
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文摘
测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法。经过分析,利用ReportX组件完成了测试向量工具的开发,并将其嵌入到国产测试系统BC3192。最后在实际环境中进行了测试,并验证了测试向量工具的良好性能。通过对ActiveX Control技术的应用,可以使虚拟仪器开发变得更为完善和强大。
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关键词
测试向量工具
测试向量
LABWINDOWS/CVI
表格
TABLE
ACTIVEX
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Keywords
pattern tools
test vector
LabWindows/CVI
form
Table
ActiveX
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分类号
TP311.56
[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
TN407
[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
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题名液晶屏显示驱动芯片测试技术研究
被引量：2
- 6
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作者
濮德龙
刘春来
张东
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《数字技术与应用》
2016年第4期59-61,共3页
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文摘
液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。
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关键词
液晶显示驱动芯片
芯片测试
多通道同步测试
色阶测试
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Keywords
LCD driver chip
chip test
multi-channel synchronous test
color gradation test
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分类号
TN873
[电子电信—信息与通信工程]
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题名圆片测试中的熔丝修调方法研究
被引量：2
- 7
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作者
高剑
赵影
李杰
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《电子测量技术》
2016年第6期15-19,共5页
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基金
北京市自然科学基金委员会-北京市科学技术研究院联合(L150009)资助项目
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文摘
熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展示了减小测试误差的计算方法,最后,改进了传统测试流程,提出了以合并测试步骤及并行测试为基础的简化方法。测试结果表明,该方法操作性强,能够有效提高测试效率和准确率。
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关键词
混合信号电路
修调
熔丝
圆片测试
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Keywords
mixed signal circuit
trim
fuse
wafer test
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术
- 8
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作者
刘春来
张东
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机构
北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室
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出处
《电子测量技术》
2016年第10期1-5,共5页
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基金
北京市科学技术研究院科技创新工程项目(PXM2015_178102_000004)资助
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文摘
液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,管理成本高昂。有必要针对整个测试系统开发数字化管理技术,利用该技术可以将系统中所有的设备、人员、数据进行数字化管理。为实现数据交换的实时性和高效性,系统采用了工业以太网EtherCAT技术,实现服务器与设备客户端的紧密工作。经验证表明,通过使用这些技术,能够提高记录测试历史数据的方便性、快捷性、提高系统可扩展性,使得系统只需添加设备客户端或给客户端添加硬件模块并升级系统软件,便可方便的完成系统升级。
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关键词
液晶显示驱动芯片
数字化管理
芯片测试
工业以太网
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Keywords
LCD driver chip
digital management
chip test
EtherCAT
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分类号
TP274
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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