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题名压敏电阻在配合使用时的老化和失效分析
被引量：36
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作者
杜志航
孙涌
汪计昌
杨仲江
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机构
南京信息工程大学大气物理学院
北京市雷电防护装置测试中心
常州市强宝通讯设备有限公司
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出处
《电瓷避雷器》
CAS
北大核心
2009年第6期31-34,39,共5页
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基金
科技部公益性行业科研专项(GYHY200806014)
江苏省大学生实践创新项目(08CX0008)
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文摘
压敏电阻在实际配合使用中会受到安装环境或者电流冲击而逐渐出现老化现象,因此对配合使用的压敏电阻性能的研究是非常必要的。在利用HAEFELY PSURGE30.2电流发生器对放电管和压敏电阻的配合电路进行相应大规模测试的基础上,研究压敏电阻的失效模式理论和分析实验现象,验证了压敏电阻和放电管在配合使用时有大大延长使用寿命、输出残压低等优点;并提出了在理想测试条件下压敏电阻失效的原因可能是由于平均功率过大失效和受潮失效导致的。这对压敏电阻在工程应用中有一定的指导参考意义。
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关键词
老化劣化
压敏电压
漏电流
失效模式
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Keywords
aging and degradation
varistor voltage
leakage current
failure mode
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分类号
TM54
[电气工程—电器]
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题名压敏电阻冲击老化过程中残压比变化的分析
被引量：9
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作者
陈璞阳
杨仲江
李祥超
王成芳
赵军
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机构
南京信息工程大学大气物理学院
北京市雷电防护装置测试中心
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出处
《电瓷避雷器》
CAS
北大核心
2014年第2期42-47,51,共7页
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基金
国家自然科学基金项目(编号:41175003)
江苏高校优势学科建设工程资助项目(PAPD)
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文摘
残压比是衡量压敏电阻性能的一项重要指标,针对压敏电阻在冲击老化过程中残压比的变化问题,通过对压敏电阻样品进行8/20μs雷电流冲击老化试验,发现残压比在标称电流(In)冲击老化试验过程中呈现缓慢降低--缓慢增加--快速上升的变化趋势;根据双肖特基势垒理论及热老化理论分析,得出冲击过程中残压比的大小主要由晶界层状态所决定,残压比快速上升阶段是由于晶界层大量破坏的结论;提出了利用残压比变化率来衡量压敏电阻老化程度的方法,在实际应用中具有参考价值。
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关键词
氧化锌压敏电阻
残压比
双肖特基势垒
冲击老化
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Keywords
ZnO varistor
residual voltage ratio
double Schottky barrier
impulse degradatio
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分类号
TM54
[电气工程—电器]
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