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对《L-B膜绝缘层》在常温下的CV特性研究
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作者 孙飞 王艳博 翼文芝 《中国医学物理学杂志》 CSCD 1998年第4期202-204,共3页
测定了多种具有金属／Ｌ－Ｂ膜绝缘层／半导体（Ｓｉ）结构的纳米厚度有机功能膜的Ｃ－Ｖ特性。
关键词 L-B膜 C-V特性 分子组分 氧化膜
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