-
题名电子产品静电放电的危害、测试及其对策(一)
被引量：5
- 1
-
-
作者
朱文立
-
机构
中国赛宝实验室安全与电磁兼容检测中心
-
出处
《电子质量》
2003年第3期55-58,共4页
-
文摘
随着电子产品自动化、智能化程度越来越高,静电放电对其危害也越来越严重,本文根据笔者实际工作经验及相 关资料就静电放电形成机理、对电子产品的危害及静电放电敏感度测试、电路设计对策等提出一些观点和看法, 供大家在实际使用中参考。
-
关键词
电子产品
静电放电
敏感度测试
电路设计
电磁干扰
产生原因
半导体器件
辐射干扰
ESD
-
Keywords
Electronic products, static discharge, test and design
-
分类号
TN06
[电子电信—物理电子学]
-
-
题名电子产品静电放电的危害、测试及其对策(二)
被引量：1
- 2
-
-
作者
朱文立
-
机构
中国赛宝实验室安全与电磁兼容检测中心
-
出处
《电子质量》
2003年第4期55-58,共4页
-
文摘
随着电子产品自动化、智能化程度越来越高,静电放电对其危害也越来越严重,本文根据笔者实际工作经验及相关资料就静电放电形成机理、对电子产品的危害及静电放电敏感度测试、电路设计对策等提出一些观点和看法,供大家在实际使用中参考。
-
关键词
电子产品
静电放电
危害
智能化程度
敏感度测试
电路设计
-
Keywords
Electronic products, static discharge, test and design
-
分类号
TN06
[电子电信—物理电子学]
-
