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浅谈电子产品的硬件测试技术
被引量:
16
1
作者
黄艳敏
《单片机与嵌入式系统应用》
2010年第2期16-17,共2页
随着对产品质量的进一步要求,在产品研发阶段的投入比例已经向测试倾斜,许多国际知名企业中硬件测试人员的数量要远大于开发人员。本文阐述了硬件测试的一般流程以及硬件测试技术的种类,分析了硬件测试的级别。
关键词
硬件测试
信号质量
时序
容限测试
下载PDF
职称材料
题名
浅谈电子产品的硬件测试技术
被引量:
16
1
作者
黄艳敏
机构
东软
飞利浦
医疗
设备
系统
有限责任
公司
高压
研发部
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2010年第2期16-17,共2页
文摘
随着对产品质量的进一步要求,在产品研发阶段的投入比例已经向测试倾斜,许多国际知名企业中硬件测试人员的数量要远大于开发人员。本文阐述了硬件测试的一般流程以及硬件测试技术的种类,分析了硬件测试的级别。
关键词
硬件测试
信号质量
时序
容限测试
Keywords
hardware testing
signal quality
timing
tolerance test
分类号
TN06 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
浅谈电子产品的硬件测试技术
黄艳敏
《单片机与嵌入式系统应用》
2010
16
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