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用于成品率分析芯片的LVS方法
1
作者
申飞
史峥
+1 位作者
潘伟伟
严晓浪
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第22期225-227,共3页
研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS方法。该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题。将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计...
研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS方法。该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题。将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证。实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性。
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关键词
成品率分析芯片
形式验证
LVS技术
有序二叉判定图
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职称材料
题名
用于成品率分析芯片的LVS方法
1
作者
申飞
史峥
潘伟伟
严晓浪
机构
浙江大学超大规模集成电路研究所
出处
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第22期225-227,共3页
基金
国家"十一五"高端通用芯片科技重大专项基金资助项目(2008ZX01035-001-06)
文摘
研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS方法。该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题。将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证。实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性。
关键词
成品率分析芯片
形式验证
LVS技术
有序二叉判定图
Keywords
yield
analysis
chip
formal
verification
Layout
Versus
Schematic（LVS）
technology
ordered
binary
decision
diagram
分类号
TP303 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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作者
出处
发文年
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操作
1
用于成品率分析芯片的LVS方法
申飞
史峥
潘伟伟
严晓浪
《计算机工程》
CAS
CSCD
北大核心
2011
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