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一种基于CCD的卷绕机对齐度测量补偿方法
1
作者
罗小军
孙高磊
《科学技术创新》
2024年第9期22-25,共4页
采用CCD实现电芯对齐度检测,设计了一种动态补偿的方法,解决了卷绕机电芯生产过程中因为电芯多层卷绕厚度变化,导致图像成像解析度变化测量结果产生偏差的问题。通过实际验证,结果表明该方法能够有效地提升CCD测量结果同三次元的相关性,...
采用CCD实现电芯对齐度检测,设计了一种动态补偿的方法,解决了卷绕机电芯生产过程中因为电芯多层卷绕厚度变化,导致图像成像解析度变化测量结果产生偏差的问题。通过实际验证,结果表明该方法能够有效地提升CCD测量结果同三次元的相关性,将GRR提升到10%以内。
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关键词
卷绕机
解析度补偿
CCD
下载PDF
职称材料
题名
一种基于CCD的卷绕机对齐度测量补偿方法
1
作者
罗小军
孙高磊
机构
广东拓斯达科技股份有限公司
出处
《科学技术创新》
2024年第9期22-25,共4页
文摘
采用CCD实现电芯对齐度检测,设计了一种动态补偿的方法,解决了卷绕机电芯生产过程中因为电芯多层卷绕厚度变化,导致图像成像解析度变化测量结果产生偏差的问题。通过实际验证,结果表明该方法能够有效地提升CCD测量结果同三次元的相关性,将GRR提升到10%以内。
关键词
卷绕机
解析度补偿
CCD
Keywords
winder
of
lithium
cell
machine
resolution
compensation
CCD
分类号
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种基于CCD的卷绕机对齐度测量补偿方法
罗小军
孙高磊
《科学技术创新》
2024
0
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