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宽光谱范围高响应度的InGaAs/InP光电探测器
1
作者
归强
裴为华
陈弘达
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第S1期62-64,共3页
报道了一种在0.6~1.65μm波段使用的InGaAs/InP光电探测器。该探测器使用的是外延在InP衬底上的InGaAs材料,探测器结构采用PIN结构通过选择性扩散的方法制作,通过调整掩模尺寸和控制扩散条件,可以制备出具有不同光敏面尺寸及光电特性...
报道了一种在0.6~1.65μm波段使用的InGaAs/InP光电探测器。该探测器使用的是外延在InP衬底上的InGaAs材料,探测器结构采用PIN结构通过选择性扩散的方法制作,通过调整掩模尺寸和控制扩散条件,可以制备出具有不同光敏面尺寸及光电特性的探测器。封装后光电探测器在0.6~1.0μm波段的响应度大于0.2A/W,其中,在1.0μm~1.65μm波段的响应度超过0.8A/W,5V偏压下的暗电流小于2nA。经过老化试验,探测器的寿命可以超过105h,器件的可靠性和稳定性已经达到商用标准。由于出色的工艺稳定性和器件性能的一致性,该探测器可做成适用于多通道甚短距离光传输用的探测器阵列。
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关键词
INGAAS/INP
宽光谱响应
高响应度
光电探测器
探测器阵列
下载PDF
职称材料
题名
宽光谱范围高响应度的InGaAs/InP光电探测器
1
作者
归强
裴为华
陈弘达
机构
中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第S1期62-64,共3页
文摘
报道了一种在0.6~1.65μm波段使用的InGaAs/InP光电探测器。该探测器使用的是外延在InP衬底上的InGaAs材料,探测器结构采用PIN结构通过选择性扩散的方法制作,通过调整掩模尺寸和控制扩散条件,可以制备出具有不同光敏面尺寸及光电特性的探测器。封装后光电探测器在0.6~1.0μm波段的响应度大于0.2A/W,其中,在1.0μm~1.65μm波段的响应度超过0.8A/W,5V偏压下的暗电流小于2nA。经过老化试验,探测器的寿命可以超过105h,器件的可靠性和稳定性已经达到商用标准。由于出色的工艺稳定性和器件性能的一致性,该探测器可做成适用于多通道甚短距离光传输用的探测器阵列。
关键词
INGAAS/INP
宽光谱响应
高响应度
光电探测器
探测器阵列
Keywords
InGaAs/InP
wide
spectra
response
high
responsibility
photo-detector
PD
array
分类号
TN364.2 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
宽光谱范围高响应度的InGaAs/InP光电探测器
归强
裴为华
陈弘达
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008
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