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题名双联碳膜解决纳米晶体在TEM中碳污染的研究
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作者
暴丽霞
常晓雪
曲双全
邵瑞文
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机构
北京理工大学分析测试中心
北京理工大学智能机器人与系统高精尖创新中心
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出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第2期223-229,共7页
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基金
国家自然科学基金资助项目(No.11904372)。
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文摘
在透射电子显微镜(TEM)中,电子束会引起碳污染,为了研究纳米晶体在TEM表征过程中碳污染问题的解决方案,选取油胺中合成的Au2Bi纳米晶体,分别用超薄碳膜和超薄双联碳膜制备样品,并用TEM进行表征。研究结果表明,利用超薄双联碳膜制备样品,明显降低了纳米晶体的碳污染现象,大大提高了电子显微镜图像的质量。同时,从碳污染形成的原理方面,分析了超薄双联碳膜能够缓解碳污染产生的原因,是因为两层碳膜将样品固定在一起,可以有效阻止有机配体的扩散。这种有效且简便的方法有助于TEM研究受配体诱导污染的纳米晶体材料。
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关键词
碳污染
透射电子显微镜
超薄双联碳膜
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Keywords
carbon contamination
TEM
ultron-thin duplex carbon film
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分类号
TN16
[电子电信—物理电子学]
TH842
[机械工程—仪器科学与技术]
TB39
[机械工程—精密仪器及机械]
TG115.21
[一般工业技术—材料科学与工程]
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