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20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件晶粒级别超声二次底波法检测技术研究 被引量：2
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作者 王立新 孙常明 +2 位作者 田峰 何延善 李银松 《内蒙古电力技术》 2012年第6期12-16,共5页
基于材质粗大晶粒对超声波散射衰减原理,使用A型脉冲超声波反射法研究了20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件Ⅰ类(晶粒级别1、2级)、Ⅱ类(晶粒级别3、4级)和Ⅲ类(晶粒级别5级)晶粒级别的检测方法。结果表明:各晶粒级别对超声波的散射衰减影响显著,... 基于材质粗大晶粒对超声波散射衰减原理,使用A型脉冲超声波反射法研究了20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件Ⅰ类(晶粒级别1、2级)、Ⅱ类(晶粒级别3、4级)和Ⅲ类(晶粒级别5级)晶粒级别的检测方法。结果表明:各晶粒级别对超声波的散射衰减影响显著,且随着探测频率的增加而增大。在相同探测频率下,一次底波波高为满刻度80%时,Ⅰ类与Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低7.61%～28.1%,波幅值平均值高10.6～15.8 dB;Ⅱ类和Ⅲ类紧固件相比,二次底波波高平均值低6.7%～9.4%,波幅值平均值高4～5.6 dB。当探测频率为5 MHz、10 MHz时,粗晶(Ⅰ、Ⅱ类)紧固件对超声波的散射衰减更为明显。用该方法可有效检测20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件的晶粒级别,检测方法具有效率高、便捷、准确及无损材质等优点。 展开更多
关键词 超声二次底波法 20Cr1Mo1V(Nb)TiB 紧固件 晶粒级别 金相法 散射衰减
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