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题名基于横电磁波小室的IC辐射发射测试方法研究
被引量：2
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作者
顾钊源
李月华
杜宏宇
万发雨
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机构
南京信息工程大学电子与信息工程学院
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出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2023年第6期7-11,共5页
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基金
国家重点研发计划(2022YFE0122700)。
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文摘
集成电路(IC)的发展呈现出小型化和集成化的趋势,使得IC电磁辐射越来越强,准确测试出IC电磁辐射对于集成电路电磁兼容设计有重要意义。横电磁波(TEM)小室法是目前最常用的IC辐射测试方法,它使用方形测试板,测试四个角度(0°, 90°, 270°, 360°)的IC辐射值,然而IC电磁辐射具有角度效应,仅用四个角度无法准确测试出IC最大电磁辐射水平。文中基于TEM小室全波仿真模型,使用单根微带线,验证了角度对于IC辐射的影响。设计了基于STM32芯片的圆形测试板和方形测试板,利用TEM小室测试了不同角度、不同模式下的STM32芯片电磁辐射,测量结果证实了不同模式下圆形测试板的测试结果都要大于方形测试板,最大偏差达到16 d Bm,因此圆形测试板更能准确测出芯片的最大电磁辐射水平。
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关键词
横电磁波小室
辐射发射
集成电路
电磁兼容
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Keywords
transverse em wave(tem)cell
radiation emission
integrated circuit(IC)
electromagnetic compatibility
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分类号
TN03
[电子电信—物理电子学]
TN40
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