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基于模型检测工具NuSMV的功能测试用例生成方法 被引量:7
1
作者 何洋 洪玫 +2 位作者 祁琳莹 王存伟 郑佳琪 《计算机应用》 CSCD 北大核心 2015年第A02期155-159,共5页
对现今已有的基于模型检测的测试用例生成方法以及覆盖准则进行了研究,在此基础上设计一个基于模型检测工具Nu SMV生成功能测试用例的方法。首先,从被测系统状态图入手,经过抽象映射成Nu SMV支持的模型验证器(SMV)模型;其次,将测试覆盖... 对现今已有的基于模型检测的测试用例生成方法以及覆盖准则进行了研究,在此基础上设计一个基于模型检测工具Nu SMV生成功能测试用例的方法。首先,从被测系统状态图入手,经过抽象映射成Nu SMV支持的模型验证器(SMV)模型;其次,将测试覆盖标准以CTL时序逻辑公式给出,并设计出陷阱性质;最后,利用Nu SMV进行模型检测,自动获得反例集,在去除冗余后,自动生成能够满足变换覆盖和状态覆盖的功能测试用例集。实验结果表明,该方法能够生成满足变换覆盖和状态覆盖的功能测试用例集,与传统方法相比,减少了测试用例生成的工作量,简化了测试用例集。 展开更多
关键词 模型检测 测试用例生成 变换覆盖 陷阱性质
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基于EFSM的最小测试用例集生成方法 被引量:1
2
作者 陈孔婷 王兴起 《计算机工程与设计》 北大核心 2019年第9期2502-2506,共5页
影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合... 影响测试成本的主要因素是测试用例集规模和测试用例的总长度,为降低测试成本,对测试用例生成技术进行研究,提出一种基于集合覆盖理论的最小测试用例集生成方法。设计迁移覆盖算法,其中引入关键迁移概念,设计最小测试用例集算法用于合并迁移覆盖算法输出的集合,得到最小测试用例集。实验结果表明,所提方法得到的最小测试用例集,降低了测试成本,提高了测试效率。 展开更多
关键词 扩展有限状态机 最小测试用例集 迁移覆盖 测试成本 测试效率
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确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则 被引量:5
3
作者 刘攀 缪淮扣 +1 位作者 曾红卫 梅佳 《软件学报》 EI CSCD 北大核心 2011年第7期1457-1474,共18页
软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测试分为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补充设计测试用例,探测软件中潜在的错... 软件测试中的一个重要问题是测试成本和测试效率的平衡问题.依据程序中错误分布的2-8定律,将测试分为两个阶段,以解决该问题.第1阶段采用最小代价发现软件中的错误,第2阶段针对第1阶段中发现的错误补充设计测试用例,探测软件中潜在的错误.重点是第1阶段的实现.依据确定性有限状态机和集合划分的理论,提出了确定性有限状态机的最小测试成本迁移覆盖准则,给出了最小测试成本迁移覆盖存在的充分和必要条件,设计了优化迁移覆盖和最小测试成本迁移覆盖的实现算法,并讨论了测试序列集合的有效性问题.在实验中,依据该方法不仅能够获得最小测试成本的测试用例集合,而且同样能够探测出确定性有限状态机中迁移上的错误. 展开更多
关键词 最小测试成本迁移覆盖准则 成本/效率的平衡 确定性有限状态机 迁移覆盖
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基于FSM的Web应用测试用例生成研究 被引量:6
4
作者 陈亚龙 江国华 《电子科技》 2013年第4期17-21,共5页
Web应用测试是提高Web应用质量的重要手段,测试的核心工作就是生成测试用例。生成测试用例主要有两大步骤:(1)从Web应用中提取模型。(2)遍历表示模型的有向图,产生测试用例。首先采用Html分析法结合源代码分析法提取FSM模型,随后在新提... Web应用测试是提高Web应用质量的重要手段,测试的核心工作就是生成测试用例。生成测试用例主要有两大步骤:(1)从Web应用中提取模型。(2)遍历表示模型的有向图,产生测试用例。首先采用Html分析法结合源代码分析法提取FSM模型,随后在新提出的Web应用最小测试成本迁移覆盖准则下,利用一种复合的启发式搜索算法——模拟退火遗传算法遍历模型。通过比较模拟退火遗传算法和传统的搜索算法的效果,实例证明,该方法比传统方法生成的质量更理想。 展开更多
关键词 FSM 最小测试成本迁移覆盖准则 模拟退火遗传算法
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用不同敏化方法提高超速测试的故障覆盖率 被引量:1
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作者 魏建龙 邝继顺 《计算机科学》 CSCD 北大核心 2014年第5期55-58,90,共5页
面向小时延缺陷(small delay detect,SDDs)的测试产生方法不仅要求测试产生算法复杂度低,还要尽可能地检测到小时延缺陷。超速测试避免了因测试最长敏化通路而带来的测试效率过低的问题,而且它要求测试向量按敏化通路时延进行分组,对每... 面向小时延缺陷(small delay detect,SDDs)的测试产生方法不仅要求测试产生算法复杂度低,还要尽可能地检测到小时延缺陷。超速测试避免了因测试最长敏化通路而带来的测试效率过低的问题,而且它要求测试向量按敏化通路时延进行分组,对每组分配一个合适的超速测试频率,再采用一种可快速、准确选择特定长度的路径选择方法来有效地提高测试质量。同时,文中首次通过优先选用单通路敏化标准对短通路进行检测,对关键通路有选择地进行非强健测试,相对采用单一的敏化方法,能以很小的时间代价提高含有小时延缺陷的结点的跳变时延故障覆盖率(TDF)。在ISCAS’89基准电路中对小时延缺陷的检测结果表明:用不同敏化方法进行测试产生,能在低的cpu时间里取得更高的跳变时延故障覆盖率。 展开更多
关键词 小时延缺陷 单通路敏化 非强健测试 跳变时延故障覆盖率 超速测试
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