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题名表贴式电阻器硫化腐蚀电化学机理及失效分析
被引量：5
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作者
畅玢
陈传庆
罗向阳
查远华
苟廷刚
王丹琴
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机构
中国振华集团云科电子有限公司
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出处
《环境技术》
2021年第2期18-21,共4页
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文摘
根据电化学理论分析片式膜固定电阻器导电层金属银层的腐蚀反应过程及电极电位对膜层腐蚀的机理及影响情况。并结合电阻器实际失效案例,对一只出现阻值增大的电阻器样品通过扫描电子显微镜(SEM)观察微观形貌,查找异常物质并通过能谱对异常点进行成分检测,确定其为硫化银,进一步了解了电阻器硫化失效的表现形式及产生特点。
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关键词
片式膜固定电阻器
导电层
硫化腐蚀
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Keywords
the thick film chip resistors
conductive layer
sulfide corrosion
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分类号
TM207
[一般工业技术—材料科学与工程]
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题名一种厚膜片式电阻器抗硫化性能的快速评价方法
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作者
廖云鹏
凌志远
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机构
华南理工大学材料科学与工程学院
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出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2022年第10期1038-1044,共7页
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基金
广东省重点领域研发计划(2019B090908005)。
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文摘
为快速评价厚膜片式电阻器的抗硫化性能,提出了一种新方法。该方法以硫脲为硫源,将样品浸入一定温度的硫脲水溶液中,测试浸入前后的电阻变化率并进行评价。与目前以硫化氢、硫磺等为硫源的方法相比较,该方法在评价速度、环保性、安全性、操作便利性等方面具有明显优势。以银电极样品和抗硫化厚膜片式电阻器为对象,硫脲和硫化氢为硫源,做了两组对照实验,结果表明,硫脲溶液法的评价速度至少是传统硫化氢法的8倍。
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关键词
厚膜片式电阻器
抗硫化
评价方法
硫脲
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Keywords
thick film chip resistors
anti-sulfurization
evaluation method
thiourea
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分类号
TG172.33
[金属学及工艺—金属表面处理]
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