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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
被引量：
3
1
作者
欧阳丹彤
陈晓艳
+2 位作者
叶靖
邓召勇
张立明
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2019年第11期2448-2457,共10页
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短...
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.
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关键词
电路测试
自动测试向量生成
测试向量集
约简
故障覆盖率
极小碰集
固定型故障
下载PDF
职称材料
基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简
被引量：
1
2
作者
欧阳丹彤
郭江姗
张立明
《湖南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第12期61-68,共8页
TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法...
TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模,从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果.
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关键词
自动测试向量生成
测试向量集约简
最小集合覆盖
局部搜索
故障类型
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职称材料
题名
基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
被引量：
3
1
作者
欧阳丹彤
陈晓艳
叶靖
邓召勇
张立明
机构
吉林大学计算机科学与技术学院
计算机体系结构国家重点实验室(中国科学院计算技术研究所)
符号计算与知识工程教育部重点实验室(吉林大学)
中国科学院计算技术研究所
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2019年第11期2448-2457,共10页
基金
国家自然科学基金项目(61672261,61502199,61402196,61872159,61704174)~~
文摘
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.
关键词
电路测试
自动测试向量生成
测试向量集
约简
故障覆盖率
极小碰集
固定型故障
Keywords
circuit
test
automatic
test
pattern
generation(ATPG)
test
pattern
set
reduction
fault
coverage
minimal
hitting
set
stuck-at
fault
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP306 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简
被引量：
1
2
作者
欧阳丹彤
郭江姗
张立明
机构
吉林大学计算机科学与技术学院
符号计算与知识工程教育部重点实验室(吉林大学)
出处
《湖南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020年第12期61-68,共8页
基金
国家自然科学基金资助项目(61872159,61672261,61502199)。
文摘
TetraMAX ATPG作为业界性能较优的自动测试向量生成工具,能够使用较短时间产生高故障覆盖率的测试向量集.本文通过对TetraMAX ATPG产生的初始测试向量集进行建模,提出了基于最小集合覆盖求解方法的最小完备测试集生成方法,利用这一算法可以在保证测试向量集故障覆盖率不变的基础上有效地缩减测试集规模,从而降低电路测试成本.实验结果表明该方法对于固定故障类型和静态电路故障类型均具有良好的约简效果.
关键词
自动测试向量生成
测试向量集约简
最小集合覆盖
局部搜索
故障类型
Keywords
Automatic
test
pattern
generation
test
pattern
set
reduction
minimum
set
covering
local
search
fault
type
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
欧阳丹彤
陈晓艳
叶靖
邓召勇
张立明
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
2019
3
下载PDF
职称材料
2
基于最小集合覆盖求解方法的测试向量集约简
欧阳丹彤
郭江姗
张立明
《湖南大学学报（自然科学版）》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2020
1
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职称材料
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