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三元混晶四层系统的表面和界面声子极化激元
被引量：
2
1
作者
包锦
闫翠玲
闫祖威
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第10期365-371,共7页
运用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,结合电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了真空/极性二元晶体薄膜/极性三元混晶薄膜/极性二元晶体衬底四层系统的表面和界面声子极化激元.以AlxGa1-xAs/GaAs和ZnxCd1-xSe/ZnSe为例,获得了...
运用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,结合电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了真空/极性二元晶体薄膜/极性三元混晶薄膜/极性二元晶体衬底四层系统的表面和界面声子极化激元.以AlxGa1-xAs/GaAs和ZnxCd1-xSe/ZnSe为例,获得了表面和界面声子极化激元模的色散关系以及表面模和界面模的频率随混晶组分和薄膜厚度的变化关系.结果表明,三元混晶四层异质结系统中存在七支表面和界面声子极化激元模,且这七支表面模和界面模的频率随混晶组分和薄膜厚度呈非线性变化,三元混晶的"单模"和"双模"性也在色散曲线中得到了很好的体现.
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关键词
表面和界面声子极化激元
四层系统
三元混晶
原文传递
膜厚对三元混晶双层系中声子极化激元模的影响
2
作者
包锦
梁希侠
《内蒙古大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期401-406,共6页
采用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,运用电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了薄膜厚度对由极性三元混晶组成的双层薄膜系统中的表面和界面声子极化激元的影响.以GaAs/AlxGa1-xAs双层系统为例,获得了其中表面和界面声子极化...
采用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,运用电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了薄膜厚度对由极性三元混晶组成的双层薄膜系统中的表面和界面声子极化激元的影响.以GaAs/AlxGa1-xAs双层系统为例,获得了其中表面和界面声子极化激元作为膜厚之函数的数值结果并进行了讨论.结果指出:在双层系统的六支表面和界面声子极化激元模中,当两种薄膜材料的厚度均变化时,只有三支界面声子极化激元的频率随之变化,而另外三支表面声子极化激元的频率则几乎不变.而当只有其中一种薄膜材料的厚度发生变化时,则只对其与另一种薄膜材料界面处且位于此种材料的纵横光学声子频率区间内的界面极化激元的频率有影响,而对其他的表面和界面极化激元的频率则没有太大的影响.
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关键词
表面和界面声子极化激元
三元混晶
双层薄膜系统
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职称材料
题名
三元混晶四层系统的表面和界面声子极化激元
被引量：
2
1
作者
包锦
闫翠玲
闫祖威
机构
内蒙古农业大学理学院
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014年第10期365-371,共7页
基金
国家自然科学基金(批准号:11364028)
内蒙古自治区自然科学基金重大项目(批准号:2013ZD02)
+1 种基金
内蒙古农业大学科技创新团队(培育)项目(批准号:NDPYTD2010-7)
内蒙古农业大学基础学科基金(批准号:JC201002)资助的课题~~
文摘
运用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,结合电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了真空/极性二元晶体薄膜/极性三元混晶薄膜/极性二元晶体衬底四层系统的表面和界面声子极化激元.以AlxGa1-xAs/GaAs和ZnxCd1-xSe/ZnSe为例,获得了表面和界面声子极化激元模的色散关系以及表面模和界面模的频率随混晶组分和薄膜厚度的变化关系.结果表明,三元混晶四层异质结系统中存在七支表面和界面声子极化激元模,且这七支表面模和界面模的频率随混晶组分和薄膜厚度呈非线性变化,三元混晶的"单模"和"双模"性也在色散曲线中得到了很好的体现.
关键词
表面和界面声子极化激元
四层系统
三元混晶
Keywords
surface
and
interface
phonon
-
polaritons
four
layer
systems
ternary
mixed
crystals
分类号
O485 [理学—固体物理]
原文传递
题名
膜厚对三元混晶双层系中声子极化激元模的影响
2
作者
包锦
梁希侠
机构
内蒙古大学物理科学与技术学院
出处
《内蒙古大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期401-406,共6页
基金
国家自然科学基金(项目编号10764003)
内蒙古自治区自然科学基金重大项目(项目编号200408020101)
文摘
采用改进的无规元素等位移模型和玻恩-黄近似,运用电磁场的麦克斯韦方程和边界条件,研究了薄膜厚度对由极性三元混晶组成的双层薄膜系统中的表面和界面声子极化激元的影响.以GaAs/AlxGa1-xAs双层系统为例,获得了其中表面和界面声子极化激元作为膜厚之函数的数值结果并进行了讨论.结果指出:在双层系统的六支表面和界面声子极化激元模中,当两种薄膜材料的厚度均变化时,只有三支界面声子极化激元的频率随之变化,而另外三支表面声子极化激元的频率则几乎不变.而当只有其中一种薄膜材料的厚度发生变化时,则只对其与另一种薄膜材料界面处且位于此种材料的纵横光学声子频率区间内的界面极化激元的频率有影响,而对其他的表面和界面极化激元的频率则没有太大的影响.
关键词
表面和界面声子极化激元
三元混晶
双层薄膜系统
Keywords
surface
and
interface
phonon
-
polaritons
ternary
mixed
crystals
bilayer
systems
分类号
O471.3 [理学—半导体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
三元混晶四层系统的表面和界面声子极化激元
包锦
闫翠玲
闫祖威
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2014
2
原文传递
2
膜厚对三元混晶双层系中声子极化激元模的影响
包锦
梁希侠
《内蒙古大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2008
0
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职称材料
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