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G.652.D光纤谱衰减模型的构建与研究
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作者 周辉智 熊涛 +4 位作者 王冬香 祁庆庆 胡古月 喻煌 刘骋 《现代传输》 2021年第4期35-39,共5页
谱衰减模型法作为GB/T 15972.40中B类光纤衰减的替代测试方法,并未得到广泛应用。我司收集181盘不同厂家的G.652.D光纤,利用PK2200分别测试出181盘光纤的衰减谱数据,利用181盘数据构建出多个谱衰减模型矩阵,并对构建出的矩阵进行了精度... 谱衰减模型法作为GB/T 15972.40中B类光纤衰减的替代测试方法,并未得到广泛应用。我司收集181盘不同厂家的G.652.D光纤,利用PK2200分别测试出181盘光纤的衰减谱数据,利用181盘数据构建出多个谱衰减模型矩阵,并对构建出的矩阵进行了精度分析。实验结果表明,利用181盘光纤构建的谱衰减模型精度较高,由1310nm、1383nm、1550nm、1625nmnm矩阵的精度最高,适宜在商业环境中使用。 展开更多
关键词 谱衰减模型 衰减谱 G.652.D光纤
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