期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
星载SRAM型FPGA可靠性快速评估技术
被引量：
1
1
作者
赵磊
王祖林
+1 位作者
周丽娜
杨蓝
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第7期863-868,共6页
空间辐射环境严重影响星载SRAM(Static Random Access Memory)型FPGA(Field Programmable Gate Array)的可靠性,提出了星载SRAM型FPGA可靠性快速验证评估方法.在传统故障注入验证的基础上,引入可靠性预评估技术,在逻辑门级分析单粒子翻...
空间辐射环境严重影响星载SRAM(Static Random Access Memory)型FPGA(Field Programmable Gate Array)的可靠性,提出了星载SRAM型FPGA可靠性快速验证评估方法.在传统故障注入验证的基础上,引入可靠性预评估技术,在逻辑门级分析单粒子翻转对FPGA配置信息位的影响,同时对TMR(Triple Modular Redundancy)冗余方式进行单粒子翻转关键位置评估.然后构成不同敏感级别的故障序列,最后根据应用需求选择不同故障序列进行故障注入从而有效快速评估系统可靠性.该方法与逐位翻转相比,能够在保证故障覆盖率的同时,有效地减少实验时间,提高实验效率.
展开更多
关键词
星载
fpga
故障注入
单粒子翻转
可靠性评估
下载PDF
职称材料
题名
星载SRAM型FPGA可靠性快速评估技术
被引量：
1
1
作者
赵磊
王祖林
周丽娜
杨蓝
机构
北京航空航天大学电子信息工程学院
出处
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013年第7期863-868,共6页
文摘
空间辐射环境严重影响星载SRAM(Static Random Access Memory)型FPGA(Field Programmable Gate Array)的可靠性,提出了星载SRAM型FPGA可靠性快速验证评估方法.在传统故障注入验证的基础上,引入可靠性预评估技术,在逻辑门级分析单粒子翻转对FPGA配置信息位的影响,同时对TMR(Triple Modular Redundancy)冗余方式进行单粒子翻转关键位置评估.然后构成不同敏感级别的故障序列,最后根据应用需求选择不同故障序列进行故障注入从而有效快速评估系统可靠性.该方法与逐位翻转相比,能够在保证故障覆盖率的同时,有效地减少实验时间,提高实验效率.
关键词
星载
fpga
故障注入
单粒子翻转
可靠性评估
Keywords
spaceborne
fpga
fault
injection
single
event
upset
reliability
evaluation
分类号
TP332.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
星载SRAM型FPGA可靠性快速评估技术
赵磊
王祖林
周丽娜
杨蓝
《北京航空航天大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2013
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
