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基于弹载干扰机的部分采样转发切片式干扰方法 被引量:3
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作者 胡海涛 姜凯 +1 位作者 李佩林 张剑云 《探测与控制学报》 CSCD 北大核心 2019年第2期125-130,共6页
针对导弹末端突防中,间歇采样转发干扰方法只有小部分信号功率用于产生导前导后假目标的问题,提出了基于弹载干扰机的部分采样转发的切片式干扰方法。该方法相比传统的间歇采样转发干扰而言克服了只有小部分信号功率被用于产生导前导后... 针对导弹末端突防中,间歇采样转发干扰方法只有小部分信号功率用于产生导前导后假目标的问题,提出了基于弹载干扰机的部分采样转发的切片式干扰方法。该方法相比传统的间歇采样转发干扰而言克服了只有小部分信号功率被用于产生导前导后假目标能够实现在真实目标周围产生假目标,提高干扰功率的利用率,同时从干扰方式上提出与弹载小型干扰机相结合,实现了基于弹载的欺骗式干扰。仿真实验表明,基于弹载小型干扰机平台上进行间歇采样转发干扰能够在导前与导后形成逼真假目标对对方形成欺骗性干扰。 展开更多
关键词 导弹突防 间歇采样 切片式干扰 弹载小型干扰机
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基于模糊C均值聚类的软件多缺陷定位方法 被引量:8
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作者 王兴亚 姜淑娟 +4 位作者 高鹏飞 陆凯 薄莉莉 鞠小林 张艳梅 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2020年第2期206-232,共27页
缺陷间的相互干扰会使程序的频谱信息和运行结果发生变化,进而影响基于频谱信息的缺陷定位方法(SBFL)的有效性.本文对缺陷干扰现象进行了研究,通过分析单缺陷程序与多缺陷程序在缺陷运行、感染和传播过程及程序运行结果间的差异定义了... 缺陷间的相互干扰会使程序的频谱信息和运行结果发生变化,进而影响基于频谱信息的缺陷定位方法(SBFL)的有效性.本文对缺陷干扰现象进行了研究,通过分析单缺陷程序与多缺陷程序在缺陷运行、感染和传播过程及程序运行结果间的差异定义了两类缺陷干扰,并根据干扰前后缺陷在互斥子集中的分布变化分析了缺陷干扰对SBFL方法有效性的影响.研究结果表明:与特定缺陷无关的失败测试用例是降低SBFL方法缺陷定位有效性的主要原因.在此基础上,本文提出了一种基于模糊C均值聚类的多缺陷定位方法FCMFL:首先,通过模糊C均值聚类分析失败测试用例与不同缺陷间的隶属关系,得到每个缺陷相关的失败测试信息;其次,基于隶属度矩阵加权计算每条语句的可疑度,并通过互斥子集优先级分析确定不同语句集合的检查顺序,最终生成一个语句检查序列指导开发人员进行程序调试.实验结果表明:(1)缺陷干扰会对SBFL方法产生影响,降低SBFL方法的缺陷定位有效性;(2)FCMFL方法可以降低多缺陷对SBFL方法的影响,提高SBFL方法的缺陷定位有效性. 展开更多
关键词 程序调试 缺陷定位 程序切片 缺陷干扰 模糊聚类
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基于循环前缀的线性调频信号抗干扰探测波形设计方法
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作者 占郁雯 张天贤 王舒玉 《现代雷达》 CSCD 北大核心 2023年第10期107-112,共6页
切片干扰兼具压制和欺骗干扰的特点,给雷达目标检测带来巨大挑战。针对这一问题,提出了一种基于循环前缀(CP)的线性调频信号设计与处理方法。首先,建立抗干扰探测波形和切片干扰的信号模型,接着利用基于CP的脉冲压缩算法实现目标距离向... 切片干扰兼具压制和欺骗干扰的特点,给雷达目标检测带来巨大挑战。针对这一问题,提出了一种基于循环前缀(CP)的线性调频信号设计与处理方法。首先,建立抗干扰探测波形和切片干扰的信号模型,接着利用基于CP的脉冲压缩算法实现目标距离向估计。然后,在恒模条件下,建立了以最大化脉压输出信干噪比为目标的优化问题模型,由于该优化问题是一个NP难问题,文中提出了包络约束-共轭梯度算法获取近似解。最后,通过仿真结果证明本文所提方法的有效性。 展开更多
关键词 抗干扰探测波形设计 切片干扰 线性调频信号 循环前缀 共轭梯度法
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一种单片机键盘和显示器的实现方法
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作者 弓千让 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1997年第6期40-43,共4页
以外中断实现键盘输入及以MC14489控制LED实现数据显示,形成了一种单片机系统输入输出的方法,解决了键盘难以适时、输出电路复杂等问题。节约了单片机I/O口,提高了CPU的效率,降低了系统成本。
关键词 单片机 键盘 显示器 接口
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单片机应用系统抗干扰技术的研究 被引量:25
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作者 张军 胡孝昌 《计算机测量与控制》 CSCD 2006年第3期412-414,共3页
抗干扰技术是电子产品首要考虑的问题,单片机应用系统的设计也不例外,抗干扰技术是它的重要一环;对干扰形成的3个主要因素,即干扰源、耦合通道、对干扰信号敏感的接收电路,主要针对接收电路的设计进行深入的研究;对CPU抗干扰措施,对单... 抗干扰技术是电子产品首要考虑的问题,单片机应用系统的设计也不例外,抗干扰技术是它的重要一环;对干扰形成的3个主要因素,即干扰源、耦合通道、对干扰信号敏感的接收电路,主要针对接收电路的设计进行深入的研究;对CPU抗干扰措施,对单片机内部配置抗干扰措施的设计及系统电源干扰的形成以克服方法的设计,从而得到了一个比较合理、有效的抗干扰系统,提高了单片机应用系统抗干扰的性能,充分保证了单片机应用系统的稳定性。 展开更多
关键词 单片机系统 干扰源 抗干扰措施
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粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中主次成分 被引量:16
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作者 陈荣庆 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 2008年第4期8-12,共5页
介绍了粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中V2O5,Si,P,Fe,K2O,Na2O,S含量的分析方法。根据五氧化二钒样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的并经其他方法定值的校准样品绘制校准曲线;以仪器提供的... 介绍了粉末压片-X-射线荧光光谱法测定五氧化二钒中V2O5,Si,P,Fe,K2O,Na2O,S含量的分析方法。根据五氧化二钒样品中主次成分含量范围,用高纯试剂配制出具有成分含量梯度的并经其他方法定值的校准样品绘制校准曲线;以仪器提供的基体校正方法消除吸收与增强效应影响,用本文提出的“干扰增量法”测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正,同时评估出干扰元素一定含量影响分析元素的净增含量。该方法与其他方法测定样品结果之间具有良好的一致性,同一试样的11次制片测定,各成分结果的相对标准偏差在0.073%-7.35%范围内。 展开更多
关键词 粉末压片 X-射线荧光光谱 五氧化二钒 干扰增量法 主次成分
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粉末压片-X射线荧光光谱法测定钒渣中的化学成分 被引量:11
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作者 陈荣庆 《光谱实验室》 CAS CSCD 2008年第3期416-420,共5页
采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。... 采用试样粉末直接压片,基体效应用仪器软件方法校正,谱线重叠干扰以本文提出的"干扰增量法"测量与计算出重叠校正系数K,输入仪器自动校正。用X射线荧光光谱法测定了钒渣中V2O5,SiO2,A l2O3,CaO,MgO,MnO,TiO2,Cr2O3,S,P含量。该方法测定钒渣标样的结果与认可值符合良好,试样9次压片测定各成分的相对标准偏差在0.09%—0.64%范围内。 展开更多
关键词 粉末压片 X射线荧光光谱 钒渣 干扰增量法 谱线重叠校正
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基于重频随机捷变的切片组合干扰抑制方法研究
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作者 谢登召 蒋路华 沈佳琪 《舰船电子对抗》 2022年第4期22-25,共4页
切片组合干扰同时兼具压制和欺骗干扰的特点,对雷达的目标检测造成巨大威胁。提出一种基于重频随机捷变的切片组合干扰抑制方法,并对基于重频随机捷变的切片组合干扰抑制方法进行了理论分析,最后进行数值仿真。该研究对于提高反舰导弹... 切片组合干扰同时兼具压制和欺骗干扰的特点,对雷达的目标检测造成巨大威胁。提出一种基于重频随机捷变的切片组合干扰抑制方法,并对基于重频随机捷变的切片组合干扰抑制方法进行了理论分析,最后进行数值仿真。该研究对于提高反舰导弹末制导雷达的抗干扰能力具有一定的参考意义。 展开更多
关键词 切片组合干扰 重频随机捷变 干扰抑制
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可视脑片膜片钳技术前庭核团脑片的制备 被引量:2
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作者 夏交 孔维佳 +3 位作者 朱云 张宇 周彦 郭长凯 《听力学及言语疾病杂志》 CAS CSCD 2008年第5期424-429,共6页
目的改良脑片制备方法,探讨影响脑片活性的实验因素。方法在国内外报道常用方法的基础上进行改良,制备含有前庭内侧核的脑干脑片,从肉眼观、镜下观和放电特性三个方面判断脑片活性,观察鼠龄、生理溶液、温度等因素对脑片活性的影响... 目的改良脑片制备方法,探讨影响脑片活性的实验因素。方法在国内外报道常用方法的基础上进行改良,制备含有前庭内侧核的脑干脑片,从肉眼观、镜下观和放电特性三个方面判断脑片活性,观察鼠龄、生理溶液、温度等因素对脑片活性的影响。结果建立了稳定的脑片制备方法。通过红外微分干涉相差技术可直接观察脑片表层下50~100μm神经元的立体影像,并可稳定地进行电生理记录;鼠龄越小神经元活性越易恢复,在成年鼠制备脑片时采取心脏灌注、使用高蔗糖溶液、较高温度预孵育等措施可提高脑片活性;孵育和记录温度直接影响神经元的兴奋性,一定范围内提高温度可提高神经元兴奋性,但会缩短恼片存活时间。结论改良的脑片制备方法简单可行,可为电生理研究提供大量具有良好活性的神经元,脑片制备方法的选择和实验环境的控制应根据所选用动物的年龄而调整。 展开更多
关键词 脑片 红外微分干涉相差术 全细胞记录 前庭核
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石英试板的磨制方法
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作者 孙国忠 《石油大学学报(自然科学版)》 CSCD 1990年第5期132-133,共2页
本文详细介绍了磨制石英试板的方法。此方法是根据石英晶体的形态,进行平行六方柱或者垂直于横条纹的方向切片,磨制成楔形,直到在正交偏光镜下出现四至五级干涉色为止。同时还详细介绍了制片过程中应注意的有关事项。此方法简单方便,易... 本文详细介绍了磨制石英试板的方法。此方法是根据石英晶体的形态,进行平行六方柱或者垂直于横条纹的方向切片,磨制成楔形,直到在正交偏光镜下出现四至五级干涉色为止。同时还详细介绍了制片过程中应注意的有关事项。此方法简单方便,易于推广。 展开更多
关键词 石英试板 楔形 干涉色 切片
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