利用AS(ALBERT R.MARTIN and STEVEN E.EMERT)模型推导出阻抗匹配程度对三同轴法测试屏蔽电缆转移阻抗结果的影响。对同一屏蔽电缆在满足不同的阻抗匹配条件时的转移阻抗进行了测试,并对测试结果进行了对比分析。结果表明:阻抗匹配程度...利用AS(ALBERT R.MARTIN and STEVEN E.EMERT)模型推导出阻抗匹配程度对三同轴法测试屏蔽电缆转移阻抗结果的影响。对同一屏蔽电缆在满足不同的阻抗匹配条件时的转移阻抗进行了测试,并对测试结果进行了对比分析。结果表明:阻抗匹配程度的优劣对测试结果的影响不可忽略,实际的测试过程中这种影响是交叉存在的。此外,在三同轴法中双短路法相比电阻馈电法在阻抗匹配条件上更容易实现,实际的测试结果也会更加准确。展开更多
文摘利用AS(ALBERT R.MARTIN and STEVEN E.EMERT)模型推导出阻抗匹配程度对三同轴法测试屏蔽电缆转移阻抗结果的影响。对同一屏蔽电缆在满足不同的阻抗匹配条件时的转移阻抗进行了测试,并对测试结果进行了对比分析。结果表明:阻抗匹配程度的优劣对测试结果的影响不可忽略,实际的测试过程中这种影响是交叉存在的。此外,在三同轴法中双短路法相比电阻馈电法在阻抗匹配条件上更容易实现,实际的测试结果也会更加准确。
