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基于ADF4002的低相噪取样本振设计 被引量：5
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作者 李柏林 陈丽 郝绍杰 《国外电子测量技术》 2012年第6期51-54,共4页
本文设计并实现了一种微波锁相环中取样器的本振电路,取样本振以频率合成芯片ADF4002为鉴相器,反馈通道采用内插混频器的结构,避免了单环通过简单倍频产生的相位噪声恶化。详细阐述了取样本振电路的实现方案和工作原理,并使用仿真软件... 本文设计并实现了一种微波锁相环中取样器的本振电路,取样本振以频率合成芯片ADF4002为鉴相器,反馈通道采用内插混频器的结构,避免了单环通过简单倍频产生的相位噪声恶化。详细阐述了取样本振电路的实现方案和工作原理,并使用仿真软件对环路滤波器进行设计。通过实验测试,输出频率为214.815MHz时锁相环的相位噪声为:-137dBc/Hz@10kHz、-140dBc/Hz@100kHz,最大输出频率间隔1MHz,满足了取样本振的低相位噪声和高频率分辨率的要求。 展开更多
关键词 取样本振 相位噪声 锁相环 混频
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