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题名一种支持SoC数字电路老化及寿命的评估方法
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作者
陈朝晖
张弛
刘玮
宋玉祥
刘潇骁
唐诗怡
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机构
中国南方电网电力调度控制中心
广东电网电力调度控制中心
飞腾(长沙)信息技术有限公司
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出处
《微电子学》
CAS
北大核心
2024年第3期511-516,共6页
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基金
南方电网公司重点科技项目(ZDKJXM20200056)。
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文摘
使用Spice可靠性仿真技术和高温稳态寿命(HTOL)实验相结合的方法,研究不同的MOSFET器件组成的环振电路在持续翻转状态下,不同应力时间和应力电压对其寿命退化的影响。依据仿真结果和Power-Law模型建立数字电路的寿命预测理论模型。通过HTOL实验验证模型的准确性。结果表明,随着时间的增加,器件的寿命退化率逐渐增加,且随着时间的推移,寿命的变化率越来越小。随着应力电压的增加,器件的寿命退化率更快趋向于稳定。器件退化符合R-D模型,仿真结果与试验结果高度,进一步证实了本模型对SoC数字电路寿命预测的准确性。通过这种组合仿真和实验的方法,可以更加准确地评估数字电路的寿命,为芯片制造过程中的可靠性设计提供参考。
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关键词
SoC数字电路
环振电路
SPICE仿真
Power-Law模型
R-D模型
高温稳态寿命
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Keywords
SoC digital circuit
ring oscillation circuit
power-law model
R-D model
HTOL
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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