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纳米电子器件中的噪声及其应用研究 被引量：2
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作者 张志勇 王太宏 《微纳电子技术》 CAS 2003年第6期6-15,共10页
对多种纳米材料和纳米器件的噪声进行了比较详细的研究,对纳米器件中几种常用的噪声测量方法进行了探讨。讨论了利用噪声(主要是散粒噪声)进行介观电学机制探测的方法,并提出了用于解决单电子晶体管中背景电荷噪声的有效方法,揭示了双... 对多种纳米材料和纳米器件的噪声进行了比较详细的研究,对纳米器件中几种常用的噪声测量方法进行了探讨。讨论了利用噪声(主要是散粒噪声)进行介观电学机制探测的方法,并提出了用于解决单电子晶体管中背景电荷噪声的有效方法,揭示了双势垒共振隧穿二极管在负微分电阻区的散粒噪声大于Poisson值的本质。 展开更多
关键词 纳米电子器件 散粒噪声 单电子晶体管 电荷噪声 双势垒共振隧穿二极管 碳纳米管 量子点器件 热噪声
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