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基于复合绝缘子污闪模型的闪络特性分析 被引量：33
1
作者 黄成才 李永刚 《电瓷避雷器》 CAS 北大核心 2014年第4期31-36,共6页
利用Obenaus模型对复合绝缘子的闪络特性进行分析,以现场运行年限不同的试品在不同喷水电导率下进行闪络试验,试验结果表明:同一试品闪络电压随着喷水电导率的增加呈指数规律下降,但憎水性差的试品变化规律不够明显。通过试验及模型计算... 利用Obenaus模型对复合绝缘子的闪络特性进行分析,以现场运行年限不同的试品在不同喷水电导率下进行闪络试验,试验结果表明:同一试品闪络电压随着喷水电导率的增加呈指数规律下降,但憎水性差的试品变化规律不够明显。通过试验及模型计算,得出电弧总的阴阳极压降和憎水性存在一定关系,其数值大小随着憎水性能的减弱而减小。研究结果表明:憎水性是影响复合绝缘子闪络电压的主要因素,它是通过决定电弧总的阴阳极压降的大小来影响闪络电压的数值;闪络电压还受水带电导率的影响,电导率取决于绝缘子表面的积污程度。 展开更多
关键词 复合绝缘子 闪络 污闪模型 憎水性 电弧压降 水带电导率
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染污绝缘子串直流污闪放电模型及验证 被引量：15
2
作者 张志劲 蒋兴良 +2 位作者 孙才新 胡建林 苑吉河 《电工技术学报》 EI CSCD 北大核心 2009年第4期36-41,共6页
绝缘子污秽闪络事故严重威胁电力系统的安全可靠运行,目前国内外对污闪机理的研究主要是以平板模型为基础。本文以7片串XP-160绝缘子为例,开展染污绝缘子串直流污闪放电模型研究。提出染污绝缘子串直流放电过程的电路模型是由剩余污层... 绝缘子污秽闪络事故严重威胁电力系统的安全可靠运行,目前国内外对污闪机理的研究主要是以平板模型为基础。本文以7片串XP-160绝缘子为例,开展染污绝缘子串直流污闪放电模型研究。提出染污绝缘子串直流放电过程的电路模型是由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成;根据模型计算所得的临界污闪电压与实测值的误差在7%以内;得到泄漏电流大于200mA时,染污绝缘子串局部电弧的综合受力中热浮力起主导作用,解释了局部电弧发展中存在飘弧现象的原因。 展开更多
关键词 直流 绝缘子串 污闪模型 泄漏电流
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计及水珠动态行为的硅橡胶表面直流闪络模型 被引量：2
3
作者 曹雯 吴亚森 +3 位作者 薛豪 李振涛 乌江 周峻 《高电压技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第5期2101-2110,共10页
在雨、露、雾等高湿度环境下复合硅橡胶表面会以分离水珠形式附着在其表面,已有研究表明,分离水珠在电场的作用下会产生动态行为,并引发闪络事故,但现有研究对水珠动态行为影响因素及直流下水珠动态行为引发的闪络特性研究不够充分。针... 在雨、露、雾等高湿度环境下复合硅橡胶表面会以分离水珠形式附着在其表面,已有研究表明,分离水珠在电场的作用下会产生动态行为,并引发闪络事故,但现有研究对水珠动态行为影响因素及直流下水珠动态行为引发的闪络特性研究不够充分。针对表面存在分离水珠的复合硅橡胶试样,设计直流下水珠动态行为和闪络放电的实验,并采用多物理场耦合仿真软件对水珠动态行为进行数值计算。最后,在电弧与剩余污层串联污闪模型的基础上提出硅橡胶表面纯水珠与水珠/水带共存时由于水珠运动引发的闪络物理模型。研究结果表明:水珠体积、水珠电导率、硅橡胶表面憎水性和污秽度等参量通过影响水珠动态行为参量(临界拉伸长度、最大拉伸因子等)导致水珠周围电场畸变与闪络放电发生。水珠动态行为越明显,则越容易发生闪络。本文提出的水珠运动引发的闪络物理模型与实验结果具有良好的一致性,为解释水珠动态行为对于硅橡胶表面闪络放电特性的影响提供一定的理论依据。 展开更多
关键词 水珠 动态行为 硅橡胶 闪络电压 污闪模型
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超疏水绝缘表面直流沿面污闪特性研究 被引量：2
4
作者 邹乔戈 王晟伍 +4 位作者 陈劲宇 刘楠 郭浚安 李黎 陈俊武 《绝缘材料》 CAS 北大核心 2023年第5期40-48,共9页
利用一种具有优异憎水性和自清洁特性的仿生超疏水涂层制备绝缘表面,设计雾水润湿下污秽绝缘表面的直流闪络试验,研究仿生超疏水绝缘表面的直流污闪特性。同时依据表面液滴的浸润状态,从电场角度对超疏水涂层表面的污闪电压进行预测。... 利用一种具有优异憎水性和自清洁特性的仿生超疏水涂层制备绝缘表面,设计雾水润湿下污秽绝缘表面的直流闪络试验,研究仿生超疏水绝缘表面的直流污闪特性。同时依据表面液滴的浸润状态,从电场角度对超疏水涂层表面的污闪电压进行预测。结果表明:超疏水涂层表面在润湿加压过程中具有自洁性,闪络经表面液滴和干区形成。本文提出的方法预测的闪络电压分别与液滴体积呈负相关,与接触角呈正相关,预测值与实测值相吻合,精度高于传统预测模型。 展开更多
关键词 超疏水 沿面闪络 直流污闪模型 电场分布 闪络电压
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考虑飘弧特性下不均匀染污绝缘子交流闪络模型分析 被引量：2
5
作者 颜子威 黄瑞平 +1 位作者 田亮 王毅 《绝缘材料》 CAS 北大核心 2020年第3期68-76,共9页
在电弧发展至临界弧长的临界时刻,绝缘子同时存在沿面电弧与飘弧,会对绝缘子的交流污闪电压(U50%)产生影响。本研究根据绝缘子平面展开模型,考虑空气电弧特性、飘弧长度及染污不均匀性(上、下表面盐密比,T/B)对绝缘子交流污闪电压的影响... 在电弧发展至临界弧长的临界时刻,绝缘子同时存在沿面电弧与飘弧,会对绝缘子的交流污闪电压(U50%)产生影响。本研究根据绝缘子平面展开模型,考虑空气电弧特性、飘弧长度及染污不均匀性(上、下表面盐密比,T/B)对绝缘子交流污闪电压的影响,推导修正了交流污闪模型,编程计算了交流大吨位CA-590、CA-597型普通绝缘子,XWP-420型双伞绝缘子的污闪电压;通过试验对比验证了模型的准确性与合理性;通过分析不同等值盐密(ESDD)下T/B与临界泄漏电流(Ic)的关系,揭示了T/B影响U50%的原因。结果表明:ESDD与T/B对污闪电压的影响相互独立,按经验公式拟合得出CA-590、CA-597型普通绝缘子污闪电压的不均匀修正系数(N)为0.124;U50%随飘弧长度的增加近似呈线性下降,ESDD越大,飘弧对U50%的影响越小,其变化规律与绝缘子表面积污特征影响Ic的显著性有关。 展开更多
关键词 绝缘子 交流污闪模型 空气飘弧 临界弧长 人工污秽试验 泄漏电流
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