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塑封LGA器件回流焊工艺的可靠性分析 被引量:4
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作者 李苗 周自泉 +1 位作者 宋惠东 程明生 《电子工艺技术》 2021年第6期331-333,337,共4页
LGA(Land Grid Array)器件封装引脚数目多、集成度高,且由于焊点高度小而具有优异的抗振动、抗弯曲、抗跌落性能,已成为民用和军用电子产品优选封装器件。某项目研制阶段用塑封LGA器件在回流焊接后出现分层、多余物残留等焊接缺陷。为... LGA(Land Grid Array)器件封装引脚数目多、集成度高,且由于焊点高度小而具有优异的抗振动、抗弯曲、抗跌落性能,已成为民用和军用电子产品优选封装器件。某项目研制阶段用塑封LGA器件在回流焊接后出现分层、多余物残留等焊接缺陷。为解决此问题,从元器件存储、元器件预处理、钢网模板设计和回流焊工艺参数优化等多方面进行工艺改进,获得符合要求的焊接质量,满足电性能要求。 展开更多
关键词 塑封lga器件 回流焊 多余物残留 可靠性
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