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基于弹性网稀疏表示的芯片参数成品率估算方法 被引量：1
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作者 李鑫 孙晋 肖甫 《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第12期2917-2924,共8页
当前集成电路芯片参数成品率估算通常预设大量扰动基函数进行芯片性能模型构建,易造成成品率估算方法复杂度过高.而若随意减少扰动基函数数量,则极易造成成品率估算精度缺失.针对此问题,本文提出一种芯片参数成品率稀疏估算方法.该方法... 当前集成电路芯片参数成品率估算通常预设大量扰动基函数进行芯片性能模型构建,易造成成品率估算方法复杂度过高.而若随意减少扰动基函数数量,则极易造成成品率估算精度缺失.针对此问题,本文提出一种芯片参数成品率稀疏估算方法.该方法首先根据工艺参数扰动建立具有随机不确定性的漏电功耗模型;然后按照关键度高低,利用弹性网自适应选取关键扰动基函数对漏电功耗模型进行稀疏表示建模;最后,利用贝叶斯理论及马尔科夫链方法对漏电功耗成品率进行估算.实验结果表明,该方法不仅可以使所构建的漏电功耗模型具有一般性和稀疏性优点,而且能够对漏电功耗成品率进行准确估算,与蒙特卡罗仿真结果相比估算误差不超过5%.同时,相较于蒙特卡罗采样,该方法还可以大幅减少算法仿真时间,具有更好的仿真效率. 展开更多
关键词 参数成品率估算 稀疏表示 弹性网 马尔科夫链 鞍点估计
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IC参数成品率全局优化的映射距离最小化算法
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作者 荆明娥 李康 +1 位作者 王俊平 郝跃 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第6期1259-1263,共5页
提出了一种新的集成电路参数成品率的全局优化算法———映射距离最小化算法.该算法采用了均匀设计与映射距离最小的耦合优化,每次迭代模拟次数很少,优化过程明显加速.另外,给出了一种粗略估计空间点集均匀性的方法———k近邻密度估计... 提出了一种新的集成电路参数成品率的全局优化算法———映射距离最小化算法.该算法采用了均匀设计与映射距离最小的耦合优化,每次迭代模拟次数很少,优化过程明显加速.另外,给出了一种粗略估计空间点集均匀性的方法———k近邻密度估计,在有效时间内判断一个空间点集的均匀性.模拟结果表明,该算法对集成电路进行快速成品率优化设计及提高电路设计的稳定性具有较好的应用价值. 展开更多
关键词 参数成品率 映射距离 均匀设计 k近邻密度估计
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