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航空电子设备大气辐射环境的危害影响分析 被引量:4
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作者 陈宇 李明 傅耘 《装备环境工程》 CAS 2019年第9期109-112,共4页
目的调查航空电子设备在典型民用飞行高度(8 000~12 000 m)下大气辐射环境的危害影响。方法利用14 MeV高能中子源对航空电子设备用CPU、DSP、FPGA及存储器开展了辐照试验,获取了各试件的单粒子效应敏感特性,采用民航高度下大气中子注量... 目的调查航空电子设备在典型民用飞行高度(8 000~12 000 m)下大气辐射环境的危害影响。方法利用14 MeV高能中子源对航空电子设备用CPU、DSP、FPGA及存储器开展了辐照试验,获取了各试件的单粒子效应敏感特性,采用民航高度下大气中子注量率的典型值6000 n/(cm^2·s),预计典型航空电子设备在巡航高度下可能发生的软错误率。结果约900 h内,该航空电子设备会由于大气辐射单粒子效应诱发一次错误。结论在不采取针对性防护措施的前提下,大气中子诱发的单粒子效应将严重影响航空电子设备可靠性、维修性,甚至危及飞行安全。 展开更多
关键词 航空电子设备 大气辐射 中子 中子诱发的单粒子效应 软错误率
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微处理器中子单粒子效应测试系统设计与试验研究 被引量:6
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作者 段丙皇 杜川华 +2 位作者 朱小锋 李悦 陈泉佑 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第4期734-741,共8页
为开展微处理器的空间大气中子单粒子效应研究,以一款TI公司65 nm CMOS工艺的微处理器为研究对象,研制了一套微处理器中子单粒子效应测试系统。该测试系统可实现对被测微处理器的单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闩锁效应的实时监测... 为开展微处理器的空间大气中子单粒子效应研究,以一款TI公司65 nm CMOS工艺的微处理器为研究对象,研制了一套微处理器中子单粒子效应测试系统。该测试系统可实现对被测微处理器的单粒子翻转、单粒子功能中断和单粒子闩锁效应的实时监测。利用加速器中子源,对该微处理器开展14 MeV中子辐照试验。试验结果表明,中子注量累积达3.5×10^(11)cm^(2)时,该器件未发生单粒子锁定效应。但总线通信、模数转换等功能模块发生了多次单粒子功能中断,其中集成总线通信接口模块为最敏感单位,试验获得的器件中子单粒子效应截面为6.6×10^(11)cm^(2)。 展开更多
关键词 微处理器 中子单粒子效应 14 MeV中子 测试系统
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大气中子单粒子效应研究现状及进展 被引量:4
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作者 黄泽棋 敬罕涛 +1 位作者 张玉亮 金大鹏 《现代应用物理》 2022年第2期142-148,共7页
介绍了国内外大气中子单粒子效应的现状和最新研究进展,主要包括单粒子效应的物理机制研究、新型半导体器件的抗大气中子辐照研究及当前国内外仿真大气中子辐照实验装置等。对未来大气中子引起的单粒子效应研究趋势做了展望。
关键词 中子单粒子效应 大气中子 中子辐照 半导体器件
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