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复合镀层中纳米SiO_2含量的测定方法研究 被引量:1
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作者 陈姚 于欣伟 +2 位作者 刘建平 赵国鹏 彭元芳 《电镀与涂饰》 CAS CSCD 2005年第4期27-29,共3页
 纳米复合镀层中纳米粉体含量的测定目前主要采用重量法和表面能谱分析法,而这2种方法都存在较大的局限性。提出采用紫外-可见分光光度法测定复合镀层中纳米SiO2的含量。以pH=1的HNO3溶液、NiSO4 HNO3溶液、CuSO4 HNO3溶液、ZnSO4 HNO...  纳米复合镀层中纳米粉体含量的测定目前主要采用重量法和表面能谱分析法,而这2种方法都存在较大的局限性。提出采用紫外-可见分光光度法测定复合镀层中纳米SiO2的含量。以pH=1的HNO3溶液、NiSO4 HNO3溶液、CuSO4 HNO3溶液、ZnSO4 HNO3分别作为空白液来模拟复合镀层的溶解液。通过试验确定了测定波长,试验发现测定的标准曲线线性都非常理想。采用该法与重量分析法分别测定了待测液中纳米SiO2的含量,并对其误差进行了比较,结果表明该法的准确度高,其平均相对误差(1 05%)远远小于重量分析法,而且更省时。 展开更多
关键词 分光光度法 复合镀 纳米sio2
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