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浅电子陷阱掺杂AgCl微晶的光作用特性研究 被引量:3
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作者 代秀红 李晓苇 +5 位作者 董国义 张荣香 张继县 李红莲 韩理 傅广生 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第3期550-553,595,共5页
利用微波吸收介电谱检测技术,同步检测均匀掺杂K4Fe(CN)6盐的立方体AgCl微晶在室温条件下的自由和浅束缚光电子的衰减时间分辨谱。对比未掺杂样品发现,掺杂引入的浅电子陷阱使样品中的自由光电子衰减时间延长了338ns,衰减过程中出现一... 利用微波吸收介电谱检测技术,同步检测均匀掺杂K4Fe(CN)6盐的立方体AgCl微晶在室温条件下的自由和浅束缚光电子的衰减时间分辨谱。对比未掺杂样品发现,掺杂引入的浅电子陷阱使样品中的自由光电子衰减时间延长了338ns,衰减过程中出现一个明显的一级指数快衰减区;较高浓度掺杂情况下,测量了光作用产物对光电子衰减的影响,分析表明,光作用产物是具有深电子陷阱作用的银簇。光作用产物的出现,使得晶体中发生了浅电子陷阱到深电子陷阱效应的转变,可见掺杂使得晶体内部结构和光作用特性发生了变化。 展开更多
关键词 微波吸收介电谱 掺杂 激光曝光 光电子衰减 浅电子陷阱
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A novel microwave absorption and dielectric spectrum detection technology in photoelectron dynamic study for solar cells
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作者 LI Xiaowei SUN Shuxu LAI Weidong ZHANG Rongxiang DAI Xiuhong JIANG Xiaoli 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第z1期153-157,共5页
The photoelectron property is directly related to the light-energy conversion efficiency of solar cells. In this paper, the photoelectron dynamic of semiconductor was analyzed. The diffusion of electrons has influence... The photoelectron property is directly related to the light-energy conversion efficiency of solar cells. In this paper, the photoelectron dynamic of semiconductor was analyzed. The diffusion of electrons has influence on the dielectric function of the solar cell material. And the amplitude variance of the imaginary and real part of the dielectric function is in direct proportion to the dynamic process of free and shallow-trapped electrons. Based on the untouched detection technique, the method is present to detect the amplitude change of the microwave signal which is passing through the material whose dielectric function changes after exposure. A 35 GHz oscillator was used as a microwave source. The absorption and dispersion microwave signals, which contain the dynamic information of free and shallow-trapped electron signal, are split respectively with phase-sensitive instrument. The photoelectron character of n-type Si(100) thin film was investigated by the novel equipment, and the lifetime of different kinds of electrons with the resolution of 1 ns was obtained. The equipment can be directly used in the study of the optoelectronic conversion mechanism of solar cells. 展开更多
关键词 dye sensitization solar cells microwave absorption dielectric spectrum
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浅电子陷阱掺杂对AgCl中光电子衰减特性的影响 被引量:1
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作者 代秀红 李新政 +3 位作者 董国义 李晓苇 杨少鹏 韩理 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第8期1255-1258,共4页
利用微波吸收介电谱检测技术,对均匀掺杂[Ru(CN)6]4-的立方体AgCl微晶中自由和浅束缚光电子时间分辨谱进行了检测。实验结果表明,样品曝光后,光生电子数量达到极大值所需时间随掺杂浓度增加逐渐变长;且随掺杂浓度的增加,自由光电子衰减... 利用微波吸收介电谱检测技术,对均匀掺杂[Ru(CN)6]4-的立方体AgCl微晶中自由和浅束缚光电子时间分辨谱进行了检测。实验结果表明,样品曝光后,光生电子数量达到极大值所需时间随掺杂浓度增加逐渐变长;且随掺杂浓度的增加,自由光电子衰减时间逐渐从未掺杂时的157ns延长至1 071ns。在分析光电子衰减曲线时发现,掺杂影响光电子的前期和后期衰减过程,主要是后期过程;且随掺杂浓度增加,光电子的前期和后期衰减都逐渐变慢。通过对比掺杂[Fe(CN)6]4-的研究结果发现,掺杂[Ru(CN)6]4-引入了浅电子陷阱(SETs),其深度较[Fe(CN)6]4-的浅。 展开更多
关键词 微波吸收介电谱 掺杂浓度 光电子衰减 浅电子陷阱(SETs)
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S+Au增感对AgBrI T-颗粒乳剂中光电子衰减行为的影响
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作者 李新政 李晓苇 +3 位作者 杨少鹏 田晓东 江晓利 傅广生 《信息记录材料》 2003年第4期3-6,共4页
利用35ps脉冲激光发源,采用微波吸收介电谱检测技术,获得了S+Au增感后的AgBrI-T颗粒微晶中光电子衰减时间分辨谱,通过分析自由光电子和浅束缚光电子衰减曲线的变化,得到了S+Au增感的不同时间与AgBrI-T颗粒乳剂自由光电子寿命和衰减时间... 利用35ps脉冲激光发源,采用微波吸收介电谱检测技术,获得了S+Au增感后的AgBrI-T颗粒微晶中光电子衰减时间分辨谱,通过分析自由光电子和浅束缚光电子衰减曲线的变化,得到了S+Au增感的不同时间与AgBrI-T颗粒乳剂自由光电子寿命和衰减时间及浅束缚光电子衰减时间的对应关系,给出最佳增感时间。 展开更多
关键词 微波介电谱 时间分辨谱 光电子 化学增感 卤化银 衰减行为
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不同类型掺杂剂对AgCl微晶中光电子衰减特性影响
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作者 代秀红 董国义 +3 位作者 李晓苇 杨少鹏 韩理 傅广生 《光电子.激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第8期1519-1523,共5页
电子陷阱掺杂可明显改善晶体材料中光电子衰减特性,最终改善其物理性能。利用微波吸收介电谱检测技术,对30%Ag位置处掺杂不同浓度K4[Ru(CN)6]和(NH4)2IrCl6的立方体AgCl微晶中自由和浅束缚光电子衰减时间(FDT,SDT)分辨谱进行了检测。结... 电子陷阱掺杂可明显改善晶体材料中光电子衰减特性,最终改善其物理性能。利用微波吸收介电谱检测技术,对30%Ag位置处掺杂不同浓度K4[Ru(CN)6]和(NH4)2IrCl6的立方体AgCl微晶中自由和浅束缚光电子衰减时间(FDT,SDT)分辨谱进行了检测。结果表明,对于掺杂K4[Ru(CN)6]的样品,随掺杂浓度增加,FDT逐渐从157ns延长至520ns;且不同浓度掺杂时的FDT均大于未掺杂时的FDT(150ns)。而对于掺杂(NH4)2IrCl6的情况,随掺杂浓度增加,FDT逐渐从126ns减小至45ns;且不同浓度掺杂时的FDT均小于未掺杂时的FDT(150ns)。分析得知,K4[Ru(CN)6]掺杂在AgCl中引入了能暂时俘获光电子的浅电子陷阱(SETs);而(NH4)2IrCl6掺杂在AgCl中引入了能长时间俘获光电子的深电子陷阱(DETs)。同时对光电子衰减动力学过程分析得知,陷阱的类型对光电子衰减寿命分区影响不同,SETs的引入使光电子衰减寿命曲线明显呈现两个指数衰减区,而DETs的引入使光电子衰减寿命曲线只呈现一个指数衰减区。 展开更多
关键词 掺杂 微波吸收介电谱 电子陷阱 光电子衰减
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硫增感AgBr I T颗粒乳剂光电子行为研究 被引量:3
6
作者 杨少鹏 董国义 +2 位作者 陆晓东 李晓苇 傅广生 《感光科学与光化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第3期176-183,共8页
本文利用微波吸收相敏检测技术,同时获得了硫增感AgBrIT颗粒乳剂,在不同增感条件下自由光电子和浅俘获光电子的时间衰减曲线,分析了不同的硫增感产物的陷阱效应.结果表明:开始时,增感产物起电子陷阱作用,至45min时,浅电子陷阱作用最佳.... 本文利用微波吸收相敏检测技术,同时获得了硫增感AgBrIT颗粒乳剂,在不同增感条件下自由光电子和浅俘获光电子的时间衰减曲线,分析了不同的硫增感产物的陷阱效应.结果表明:开始时,增感产物起电子陷阱作用,至45min时,浅电子陷阱作用最佳.如增感时间进一步增加,硫增感产物将变为深电子陷阱.本文还讨论了浅电子陷阱中浅俘获光电子衰减时间与阱深的依存关系. 展开更多
关键词 微波吸收相敏技术 硫增感 电子陷阱 光电子
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立方体AgBrCl硫增感光的电子行为
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作者 陆晓东 李晓苇 《信息记录材料》 2004年第2期31-34,共4页
本文利用微波吸收相敏检测技术 ,同时获得了立方体AgBrCl乳剂中 ,在增感温度增加的条件下 ,自由光电子和浅束缚光电子的时间衰减曲线 ,分析了不同的硫增感产物随增感温度增加所起的陷阱效应。结果表明 ,在立方体AgBrCl乳剂中 ,硫增感初... 本文利用微波吸收相敏检测技术 ,同时获得了立方体AgBrCl乳剂中 ,在增感温度增加的条件下 ,自由光电子和浅束缚光电子的时间衰减曲线 ,分析了不同的硫增感产物随增感温度增加所起的陷阱效应。结果表明 ,在立方体AgBrCl乳剂中 ,硫增感初始阶段的增感产物主要是作为浅电子陷阱存在 ;随着增感温度增加至5 5℃时 ,增感产物浅电子陷阱效果最佳 ;如增感温度进一步增加 ,硫增感中心又变为深电子陷阱。文中还讨论了浅电子陷阱中浅束缚光电子衰减时间与阱深的依存关系。 展开更多
关键词 微波吸收相敏检测技术 AgBrCl乳剂 增感温度 自由光电子 浅束缚光电子
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掺杂AgCl中光电子衰减特性研究
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作者 代秀红 张荣香 +3 位作者 李晓苇 董国义 杨少鹏 韩理 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期1142-1145,1159,共5页
利用微波吸收介电谱检测技术,检测均匀掺杂[Fe(CN)6]4-盐的立方体AgCl微晶首次曝光后的自由和浅束缚光电子的衰减时间分辨谱。实验发现,随着掺杂浓度的增加,样品中自由光电子衰减时间逐渐从未掺杂时的116ns延长至1133ns。分析光电子衰... 利用微波吸收介电谱检测技术,检测均匀掺杂[Fe(CN)6]4-盐的立方体AgCl微晶首次曝光后的自由和浅束缚光电子的衰减时间分辨谱。实验发现,随着掺杂浓度的增加,样品中自由光电子衰减时间逐渐从未掺杂时的116ns延长至1133ns。分析光电子衰减曲线还同时得到,随着掺杂浓度的增加,光电子的前期较慢衰减过程逐渐变快,后期较快衰减过程逐渐变慢,总体上衰减时间逐渐增加,且掺杂浓度变化对后期衰减影响较大。研究表明掺杂使得晶体中引入了能总体上延缓光电子衰减的浅电子陷阱,并且随掺杂浓度的增加,浅电子陷阱特征更加明显。 展开更多
关键词 微波吸收介电谱 掺杂浓度 光电子衰减 浅电子陷阱
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The trapping effect of sulfur sensitization center Ag_2S cluster on T-grain AgBrI microcrystals
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作者 YANG Shaopeng FU Guangsheng LI Xiaowei TIAN Xiaodong 《Science China(Physics,Mechanics & Astronomy)》 SCIE EI CAS 2004年第6期744-751,共8页
The microwave absorption dielectric-spectrum technique was used to study the decay kinetics of photoelectrons in sulfur-sensitized silver halide crystals. The time-resolution spectrum of free electrons and shallow-tra... The microwave absorption dielectric-spectrum technique was used to study the decay kinetics of photoelectrons in sulfur-sensitized silver halide crystals. The time-resolution spectrum of free electrons and shallow-trapped electrons generated in sulfur-sensitized AgBrl crystals has been obtained. The relationship of the trapping effect of sensitization centers Ag2S and sensitization time or temperature in emulsions has been duscussed. With the increase in the sensitization time and temperature, the trap effect of sulfur sensitization centers varies from hole trap to shallow electron trap, and deep electron trap. 展开更多
关键词 silver halide sulfur-sensitized photoelectron TRAPPING effect microwave absorption dielectric-spectrum.
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