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基于低频噪声检测的电力MOSFET可靠性分析 被引量:8
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作者 樊欣欣 杨连营 陈秀国 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2018年第1期75-80,共6页
针对变电所中通信电源的核心器件电力金属氧化物半导体场效应晶体管(power MOSFET,P-MOSFET)在大功率、强电流下易损坏、故障率高,直接影响电力通信业务的安全稳定运行的问题,提出了一种基于低频噪声检测的可靠性分析方法。利用互功... 针对变电所中通信电源的核心器件电力金属氧化物半导体场效应晶体管(power MOSFET,P-MOSFET)在大功率、强电流下易损坏、故障率高,直接影响电力通信业务的安全稳定运行的问题,提出了一种基于低频噪声检测的可靠性分析方法。利用互功率谱测量方法检测PMOSFET内部的本征低频噪声,根据频段阈值法的拐点噪声谱,确定P-MOSFET筛选的上下限阈值大小,建立了P-MOSFET的1/f噪声功率谱密度及其阈值的对应关系式。实验结果表明,与传统的有损检测法相比,该方法能够有效评估P-MOSFET的三种可靠性等级,提高了可靠性筛选的准确率,为其他晶体管的可靠性评估提供了参考。 展开更多
关键词 电力金属氧化物半导体场效应晶体管(P-MOSFET) 可靠性分析 阈值筛选 低频噪声检测 功率谱密度
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基于低频噪声检测光耦器件可靠性的频域筛选方法 被引量:5
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作者 陈晓娟 王文婷 景非 《电子器件》 CAS 北大核心 2015年第1期58-62,共5页
针对光耦器件可靠性筛选,提出全频段阈值筛选方法检测光耦器件内部低频噪声。根据光耦器件内部的低频噪声完成光耦器件可靠性的筛选。实验中利用光耦器件测试系统检测200只光耦器件内部的低频噪声,计算这200只光耦器件全频段平均噪声谱... 针对光耦器件可靠性筛选,提出全频段阈值筛选方法检测光耦器件内部低频噪声。根据光耦器件内部的低频噪声完成光耦器件可靠性的筛选。实验中利用光耦器件测试系统检测200只光耦器件内部的低频噪声,计算这200只光耦器件全频段平均噪声谱,确定筛选的阈值,再根据光耦器件可靠性分类标准,判断被测器件可靠性等级。 展开更多
关键词 光耦噪声筛选 低频噪声检测 过激噪声 筛选阈值
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光电耦合器件低频噪声特性与可靠性老化研究 被引量:5
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作者 余永涛 王之哲 +5 位作者 郭长荣 刘焱 罗宏伟 王小强 罗军 陈勇国 《半导体光电》 CAS 北大核心 2018年第2期192-196,共5页
在宽的输入偏置电流范围条件下,开展了光电耦合器件低频噪声特性测试与功率老化和高温老化的可靠性试验研究。结果表明,光电耦合器件的低频噪声主要是内部光敏晶体管1/f噪声,并随输入偏置电流的增大呈现先增大后减小的规律,这与器件的... 在宽的输入偏置电流范围条件下,开展了光电耦合器件低频噪声特性测试与功率老化和高温老化的可靠性试验研究。结果表明,光电耦合器件的低频噪声主要是内部光敏晶体管1/f噪声,并随输入偏置电流的增大呈现先增大后减小的规律,这与器件的工作状态密切相关。功率老化试验后,高输入偏置电流条件下的低频噪声有所增大,这归因于电应力诱发的有源区缺陷。高温老化试验后,整个器件线性工作区条件下的低频噪声都明显增大,说明温度应力能够更多地激发器件内部的缺陷。相对于1/f噪声幅度参量,低频噪声宽带噪声电压参量可以更灵敏准确地进行器件可靠性表征。 展开更多
关键词 光电耦合器件 低频噪声检测 功率老化 高温老化 可靠性
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基于低频电噪声的光电耦合器可靠性筛选方法研究 被引量:3
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作者 余永涛 支越 +3 位作者 陈勇国 罗宏伟 王小强 罗军 《半导体光电》 CAS 北大核心 2019年第5期615-619,共5页
低频电噪声是表征电子器件质量和可靠性的敏感参数,通过测试低频噪声,可以快速、无损地实现光耦器件的可靠性评估。通过开展可靠性老化对光电耦合器低频噪声特性影响的试验研究,提出基于低频段宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法... 低频电噪声是表征电子器件质量和可靠性的敏感参数,通过测试低频噪声,可以快速、无损地实现光耦器件的可靠性评估。通过开展可靠性老化对光电耦合器低频噪声特性影响的试验研究,提出基于低频段宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法,并将可靠性筛选结果与点频噪声筛选方法结果进行对比分析。结果表明,与点频噪声参数等现有方法相比,宽频带噪声参数可以更灵敏和准确地表征器件可靠性,同时计算简便,基于宽频带噪声参数的光电耦合器可靠性筛选方法可以实现更为准确合理的可靠性分类筛选。 展开更多
关键词 光电耦合器 低频噪声检测 可靠性筛选 宽带噪声
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低频低噪声测量放大器的设计 被引量:11
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作者 陈晓娟 樊欣欣 吴洁 《现代电子技术》 北大核心 2016年第10期116-119,共4页
低频噪声是表征半导体器件质量和可靠性的一个重要敏感参数,为了能够测量电子器件低频噪声,使用分立器件SSM-2220组成偏置电路,由ADA4898-1构成前置放大器,采用噪声匹配变压器法设计一种测量低频低噪声的放大器。实验结果表明:在频率为8... 低频噪声是表征半导体器件质量和可靠性的一个重要敏感参数,为了能够测量电子器件低频噪声,使用分立器件SSM-2220组成偏置电路,由ADA4898-1构成前置放大器,采用噪声匹配变压器法设计一种测量低频低噪声的放大器。实验结果表明:在频率为80 k Hz以下,放大器输入端共模抑制比高出集成运放OP-37 228 d B,其系统的噪声系数低于前置放大器ADA-40752 0.3 d B,满足低频低噪测量放大器的设计要求。 展开更多
关键词 分立元件 前置放大器 噪声匹配变压器 低频噪声测量
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低频标准真空涨落的测量 被引量:5
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作者 薛佳 秦际良 +4 位作者 张玉驰 李刚 张鹏飞 张天才 彭堃墀 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第4期148-154,共7页
采用自平衡零拍方案,对低频段的标准量子真空涨落进行了测量.实验确定了该系统的饱和光功率约为3.2 mW.在10 Hz—400 kHz的频率范围内,系统的共模抑制比平均为55 dB,在100 Hz处高达63 dB,对激光经典技术噪声具有很强的抑制作用.当入射... 采用自平衡零拍方案,对低频段的标准量子真空涨落进行了测量.实验确定了该系统的饱和光功率约为3.2 mW.在10 Hz—400 kHz的频率范围内,系统的共模抑制比平均为55 dB,在100 Hz处高达63 dB,对激光经典技术噪声具有很强的抑制作用.当入射光功率为400μW时,真空涨落噪声达到11 dB.此低频量子真空噪声探测系统可广泛应用于量子计量和量子光学等研究领域. 展开更多
关键词 低频 量子噪声 平衡零拍探测 共模抑制比
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