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小靶材实现大平面基片均匀性膜层沉积的方法 被引量:2
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作者 金扬利 邱阳 +1 位作者 赵华 祖成奎 《真空》 CAS 2014年第3期30-32,共3页
常规的实验用磁控溅射设备,其固定的靶基工况,导致膜层均匀性区域有限,只能用于较小基片上膜层的沉积。提出一种新的方法,将靶材固定,基片自转或公自转工位变更为靶材可移动,基片自转的方式,并控制靶材的移动及基片自转速率的调节,可以... 常规的实验用磁控溅射设备,其固定的靶基工况,导致膜层均匀性区域有限,只能用于较小基片上膜层的沉积。提出一种新的方法,将靶材固定,基片自转或公自转工位变更为靶材可移动,基片自转的方式,并控制靶材的移动及基片自转速率的调节,可以用较小的靶材在较大平面上沉积膜层,所制备膜层具有良好的膜厚均匀性;建立了计算模型,分析了小靶材实现大平面基片均匀性膜层沉积的途径;在Φ260 mm的平片上进行了Ge膜的实际制备,证实了上述思路的可行性。 展开更多
关键词 薄膜 磁控溅射 小靶材 大平面基片 均匀性
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