期刊文献+
共找到2篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
工艺参数对楔横轧大断面多台阶轴拉细缩颈的影响 被引量:6
1
作者 闫华军 张超 +4 位作者 路红岩 张双杰 张军改 马世博 石小猛 《塑性工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2020年第9期100-107,共8页
针对在大断面多台阶轴轧制过程中容易出现拉细缩颈的问题,以实际生产中的复杂大断面多台阶轴为研究对象,研究轧制工艺方案和轧件拉细缩颈缺陷。根据成形角α和展宽角β这两个工艺参数与金属流动速度的制约关系,采用有限元模拟和轧制实... 针对在大断面多台阶轴轧制过程中容易出现拉细缩颈的问题,以实际生产中的复杂大断面多台阶轴为研究对象,研究轧制工艺方案和轧件拉细缩颈缺陷。根据成形角α和展宽角β这两个工艺参数与金属流动速度的制约关系,采用有限元模拟和轧制实验相结合的方法,研究了两个工艺参数对轧件轧制应力和内部疏松程度的影响规律。通过寻找两个工艺参数对应的轧件轧制应力转折点和内部疏松转折点,最终界定了断面收缩率为81.22%时两个工艺参数的合理取值范围:成形角α为31°~32.4°、展宽角β为8.2°~9°。采用优化后的工艺参数进行轧制成形,缩短了模具设计周期。 展开更多
关键词 拉细缩颈 多台阶轴 工艺参数 轧制应力 内部疏松
下载PDF
粒径尺度与静电自组装薄膜结构的相关性研究
2
作者 平伟 李义臣 +3 位作者 周岚 Qinguo FAN 张剑 邵建中 《浙江理工大学学报(自然科学版)》 2017年第6期796-803,共8页
以聚乙烯亚胺(PEI)和自制的纳米SiO_2为前驱体,利用静电自组装法构造SiO_2/PEI结构生色薄膜,应用场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)、原子力显微镜(AFM)和成像椭圆偏振仪分析表征组装粒子的粒径与薄膜的组装过程、薄膜的表面形貌、薄膜的内... 以聚乙烯亚胺(PEI)和自制的纳米SiO_2为前驱体,利用静电自组装法构造SiO_2/PEI结构生色薄膜,应用场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)、原子力显微镜(AFM)和成像椭圆偏振仪分析表征组装粒子的粒径与薄膜的组装过程、薄膜的表面形貌、薄膜的内部结构之间的相关性。结果表明:SiO_2/PEI薄膜的静电自组装过程中,粒子的填充行为使每层粒子间的空隙减少直至该层接近饱和,粒子的叠加行为使薄膜纵向错层增长;组装粒子的粒径越大,薄膜表面的高低起伏越明显,薄膜越粗糙;薄膜的内部结构中空气占比越大,薄膜越疏松;光的散射作用因薄膜结构的缺陷始终存在,随粒子粒径的增大,光的散射作用增强,造成薄膜颜色种类少、不均匀。 展开更多
关键词 静电自组装 粒径 薄膜结构 组装过程 表面粗糙度 内部疏松度
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部