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自适应积分时间改变的红外焦平面非均匀校正方法 被引量:5
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作者 崔坤 陈凡胜 +1 位作者 苏晓锋 蔡萍 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2017年第11期67-73,共7页
基于黑体标定的红外焦平面校正方法,当探测器工作积分时间与校正参数获取时的积分时间不一致时校正效果会变差,究其原因主要是因为像元的响应输出随积分时间呈现一定的非线性,传统黑体定标类的校正方法属于积分时间维度上的单点校正。... 基于黑体标定的红外焦平面校正方法,当探测器工作积分时间与校正参数获取时的积分时间不一致时校正效果会变差,究其原因主要是因为像元的响应输出随积分时间呈现一定的非线性,传统黑体定标类的校正方法属于积分时间维度上的单点校正。针对该问题提出了一种自适应积分时间改变的非均匀校正方法,该方法在辐射通量和积分时间两个维度上都进行多点校正,从而有效解决了变积分时间时校正效果变差的问题。另外,该方法直接存储原始黑体标定数据用于校正,不需要存储增益及偏置校正系数。使用局部非均匀性均值作为校正效果的评价方法,该评价方法更能反映校正后残差的局部特性。实验表明,相对于传统方法,该方法能够有效降低积分时间改变时校正后的图像非均匀性,提高了黑体定标类校正方法的工程适用性。 展开更多
关键词 红外焦平面探测器 非均匀校正 黑体标定 局部非均匀性
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红外焦平面探测器贮存寿命试验研究 被引量:3
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作者 刘若冰 陈勤 《红外技术》 CSCD 北大核心 2019年第12期1124-1132,共9页
本文以红外焦平面探测器为研究对象,在充分分析历年来国内红外焦平面探测器贮存寿命试验数据的基础上,研究了产品的失效模式和失效机理,并对贮存寿命试验前后关键参数指标变化量进行了深入分析,为全面评价红外焦平面探测器产品质量和可... 本文以红外焦平面探测器为研究对象,在充分分析历年来国内红外焦平面探测器贮存寿命试验数据的基础上,研究了产品的失效模式和失效机理,并对贮存寿命试验前后关键参数指标变化量进行了深入分析,为全面评价红外焦平面探测器产品质量和可靠性提供了依据,为后续红外焦平面探测器的标准制修订工作奠定了基础。 展开更多
关键词 红外焦平面探测器 贮存寿命 试验数据
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红外焦平面探测器键合和剪切可靠性试验研究 被引量:1
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作者 刘若冰 王爽 +3 位作者 陈勤 喻松林 毛京湘 陈洪雷 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2022年第6期861-869,共9页
红外焦平面探测器可靠性与生产研制工艺过程控制要求密切相关。本文对探测器的可靠性考核思路进行了分析,结合目前标准中可靠性试验存在的问题,对芯片和杜瓦组装过程中的引线键合强度、芯片剪切强度开展了试验研究,为指导红外焦平面探... 红外焦平面探测器可靠性与生产研制工艺过程控制要求密切相关。本文对探测器的可靠性考核思路进行了分析,结合目前标准中可靠性试验存在的问题,对芯片和杜瓦组装过程中的引线键合强度、芯片剪切强度开展了试验研究,为指导红外焦平面探测器的研制生产、全面评价其质量和可靠性提供依据,为后续红外焦平面探测器的标准制修订工作奠定基础。 展开更多
关键词 红外焦平面探测器 可靠性 引线键合强度 芯片剪切强度
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InSb焦平面探测器高低温循环特性研究 被引量:1
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作者 王洋 鲁星 +5 位作者 孟超 刘俊明 邝永变 孟庆端 朱旭波 司俊杰 《红外与激光工程》 EI CSCD 北大核心 2015年第12期3701-3706,共6页
制冷型In Sb红外焦平面探测器工作时需降温至低温(80 K),器件在整个生命周期会经受从常温(300 K)到低温(80 K)的上千次高低温循环。针对该型探测器开展了高低温循环特性试验,测试和分析了上千次高低温循环过程中器件光电性能、杜瓦热负... 制冷型In Sb红外焦平面探测器工作时需降温至低温(80 K),器件在整个生命周期会经受从常温(300 K)到低温(80 K)的上千次高低温循环。针对该型探测器开展了高低温循环特性试验,测试和分析了上千次高低温循环过程中器件光电性能、杜瓦热负载和J-T制冷器特性的变化。试验结果表明,探测器可以经受至少2 000次高低温循环,并且探测率变化的幅度≤5.5%、响应率变化的幅度≤4.8%、盲元数未发生增加。研究结果为器件的工艺研发和改进提供了参考。 展开更多
关键词 InSb焦平面探测器 高低温循环 参数变化 可靠性
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