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用X射线衍射仪法测定纯铜点阵常数
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作者 陈高恩 薛殿麒 郭承铭 《中南民族学院学报（自然科学版）》 1998年第4期27-31,共5页
用Ｘ射线衍射仪法对光谱纯铜进行了点阵常数的精确测定，给出了测定值．从实验技术方面进行了分析阐述，为金属材料研究和大学近代物理实验选题提供了参考．
关键词 X射线衍射 晶面指数 点阵常数 纯铜 铜 测定
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