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光电测量设备光学系统的像面照度均匀性检测
被引量:
15
1
作者
沈湘衡
杨亮
+1 位作者
贺庚贤
王力
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第12期2531-2536,共6页
提出了一种光电测量设备光学系统像面照度均匀性的检测方法。该方法首先对被检设备的CCD进行标定,然后用给出的均匀性检测系统对整机光学系统进行检测。该检测系统利用积分球产生均匀背景光信号,将光测设备置于积分球通光口处,利用计算...
提出了一种光电测量设备光学系统像面照度均匀性的检测方法。该方法首先对被检设备的CCD进行标定,然后用给出的均匀性检测系统对整机光学系统进行检测。该检测系统利用积分球产生均匀背景光信号,将光测设备置于积分球通光口处,利用计算机采集CCD图像。根据CCD的标定结果,用两点多段校正算法对采集到的图像进行校正,通过对校正后的图像进行分析,得到像面照度的不均匀度。此外,将图像分为多个区域,计算各个区域的灰度与像面中心区域灰度的比值,得出图像的灰度分布,实现了光电测量设备光学系统像面照度均匀性的室内检测。利用研制的光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测系统对某型号光电测量设备进行了检测,得到了该设备光学系统像面照度不均匀度达到18.7%,不满足不均匀度≤10%的要求,应对该光测设备进行重新装调。在重新装调后对该设备进行复检,得到重新装调后的不均匀度为6.7%,像面照度均匀性得到了提高,验证了该方法的有效性。
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关键词
像面照度不均匀度
光学镜头
CCD校正
积分球
光电测量设备
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职称材料
多光谱图像获取中光照不均匀性的非线性校正算法
被引量:
4
2
作者
刘振
《中国印刷与包装研究》
CAS
2013年第1期23-27,32,共6页
为降低多光谱图像数据获取过程中光照不均匀性造成的影响,本研究对多光谱成像系统中获取设备——多光谱相机的CCD响应特性进行了分析,建立非线性光照不均匀性校正算法。针对大尺度物体表面光照特性,通过Cheby-shev多项式对光照分布曲面...
为降低多光谱图像数据获取过程中光照不均匀性造成的影响,本研究对多光谱成像系统中获取设备——多光谱相机的CCD响应特性进行了分析,建立非线性光照不均匀性校正算法。针对大尺度物体表面光照特性,通过Cheby-shev多项式对光照分布曲面进行非线性拟合,进而对光照不均匀性造成的CCD响应误差进行了校正。实验结果表明:本研究提出的非线性校正方法可以很好地降低光照不均匀性的影响,在目前的校正方法中,效果最理想。
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关键词
多光谱图像
获取
非线性校正
光照不均匀性
CHEBYSHEV多项式
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职称材料
多点实时光刻机光源照度均匀度检测系统设计
3
作者
赵可为
谭艾英
+4 位作者
尹韶云
蔡文涛
杨若夫
陈建军
佟首峰
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2018年第6期218-223,共6页
提出了一种光刻机照度均匀度多点测量方法,该方法利用紫外增强PIN光电二极管,同时快速测量曝光机照面多点的光强,通过在传统电流-电压放大电路的基础上进行改进,同时使用复合放大的方法,大大提高了曝光机照度均匀度多点测量方法的重复性...
提出了一种光刻机照度均匀度多点测量方法,该方法利用紫外增强PIN光电二极管,同时快速测量曝光机照面多点的光强,通过在传统电流-电压放大电路的基础上进行改进,同时使用复合放大的方法,大大提高了曝光机照度均匀度多点测量方法的重复性,使每一测量单点测量重复性控制在0.02mW/cm2。利用紫外增强PIN光电二极管光刻机光源进行实验,结果表明,多点测量一致性小于0.1mW/cm2,且检测的照度均匀性符合要求。
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关键词
测量
照度均匀度
多点测量
光刻技术
光刻机
实时检测
原文传递
题名
光电测量设备光学系统的像面照度均匀性检测
被引量:
15
1
作者
沈湘衡
杨亮
贺庚贤
王力
机构
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院研究生院
出处
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第12期2531-2536,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(No.60507003)
文摘
提出了一种光电测量设备光学系统像面照度均匀性的检测方法。该方法首先对被检设备的CCD进行标定,然后用给出的均匀性检测系统对整机光学系统进行检测。该检测系统利用积分球产生均匀背景光信号,将光测设备置于积分球通光口处,利用计算机采集CCD图像。根据CCD的标定结果,用两点多段校正算法对采集到的图像进行校正,通过对校正后的图像进行分析,得到像面照度的不均匀度。此外,将图像分为多个区域,计算各个区域的灰度与像面中心区域灰度的比值,得出图像的灰度分布,实现了光电测量设备光学系统像面照度均匀性的室内检测。利用研制的光电测量设备光学系统像面照度均匀性检测系统对某型号光电测量设备进行了检测,得到了该设备光学系统像面照度不均匀度达到18.7%,不满足不均匀度≤10%的要求,应对该光测设备进行重新装调。在重新装调后对该设备进行复检,得到重新装调后的不均匀度为6.7%,像面照度均匀性得到了提高,验证了该方法的有效性。
关键词
像面照度不均匀度
光学镜头
CCD校正
积分球
光电测量设备
Keywords
illumination
non
-
uniformity
optical
lens
CCD
correction
integrating
sphere
photoelectric
equipment
分类号
TH703 [机械工程—仪器科学与技术]
TB96 [机械工程—精密仪器及机械]
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职称材料
题名
多光谱图像获取中光照不均匀性的非线性校正算法
被引量:
4
2
作者
刘振
机构
曲阜师范大学印刷学院
武汉大学印刷与包装系
出处
《中国印刷与包装研究》
CAS
2013年第1期23-27,32,共6页
基金
国家973重点基础研究发展计划--文化遗产数字化保护的理论与方法(No.2012CB725302)
文摘
为降低多光谱图像数据获取过程中光照不均匀性造成的影响,本研究对多光谱成像系统中获取设备——多光谱相机的CCD响应特性进行了分析,建立非线性光照不均匀性校正算法。针对大尺度物体表面光照特性,通过Cheby-shev多项式对光照分布曲面进行非线性拟合,进而对光照不均匀性造成的CCD响应误差进行了校正。实验结果表明:本研究提出的非线性校正方法可以很好地降低光照不均匀性的影响,在目前的校正方法中,效果最理想。
关键词
多光谱图像
获取
非线性校正
光照不均匀性
CHEBYSHEV多项式
Keywords
Multi-spectral
image
Acquisition
non
-linear
correction
illumination
non
-
uniformity
Chebyshev
polynomials
分类号
TP301.6 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TP751.2 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
下载PDF
职称材料
题名
多点实时光刻机光源照度均匀度检测系统设计
3
作者
赵可为
谭艾英
尹韶云
蔡文涛
杨若夫
陈建军
佟首峰
机构
长春理工大学光电测控与光信息传输技术教育部重点实验室
中国科学院重庆绿色智能技术研究院集成光电中心
出处
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2018年第6期218-223,共6页
基金
国家自然科学基金(61605208
61475199)
重庆市重点产业共性关键技术创新专项项目(2015zdcy-ztzx70006)
文摘
提出了一种光刻机照度均匀度多点测量方法,该方法利用紫外增强PIN光电二极管,同时快速测量曝光机照面多点的光强,通过在传统电流-电压放大电路的基础上进行改进,同时使用复合放大的方法,大大提高了曝光机照度均匀度多点测量方法的重复性,使每一测量单点测量重复性控制在0.02mW/cm2。利用紫外增强PIN光电二极管光刻机光源进行实验,结果表明,多点测量一致性小于0.1mW/cm2,且检测的照度均匀性符合要求。
关键词
测量
照度均匀度
多点测量
光刻技术
光刻机
实时检测
Keywords
measurement
illumination
non
-
uniformity
multi-point
detection
lithography
lithography
machines
real-time
detection
分类号
TH741 [机械工程—光学工程]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
光电测量设备光学系统的像面照度均匀性检测
沈湘衡
杨亮
贺庚贤
王力
《光学精密工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
15
下载PDF
职称材料
2
多光谱图像获取中光照不均匀性的非线性校正算法
刘振
《中国印刷与包装研究》
CAS
2013
4
下载PDF
职称材料
3
多点实时光刻机光源照度均匀度检测系统设计
赵可为
谭艾英
尹韶云
蔡文涛
杨若夫
陈建军
佟首峰
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2018
0
原文传递
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