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CENDL-3.1铜的检验和改进 被引量：1
1
作者 吴海成 张华 王文明 《核科学与工程》 CSCD 北大核心 2009年第3期212-220,共9页
介绍了利用屏蔽基准实验OKTAVIAN以及核临界安全手册（ICSBEP）中的临界基准实验对CENDL-3．1铜的全套中子评价数据进行的宏观检验。在屏蔽基准检验中，除了中子和7泄漏谱上发现了由非弹性散射截面造成的与实验测量结果的分歧，计算结... 介绍了利用屏蔽基准实验OKTAVIAN以及核临界安全手册（ICSBEP）中的临界基准实验对CENDL-3．1铜的全套中子评价数据进行的宏观检验。在屏蔽基准检验中，除了中子和7泄漏谱上发现了由非弹性散射截面造成的与实验测量结果的分歧，计算结果与实验符合相当好。在快中子谱临界基准检验中，装置HMF072、HMF073和PMF013的keff的计算结果高出实验值大约2％，严重偏离实验结果。针对HMF072装置的灵敏度分析显示，该分歧的产生主要是由于全截面在0．1～1．3MeV能区的评价不当引起的。在对0．1～1．3MeV的全截面进行修正后，临界检验的结果获得了明显改善。 展开更多
关键词 核数据 CENDL-3.1 宏观检验 中子泄漏谱 γ泄漏谱 临界性 灵敏度分析
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γ射线辐照对掺Ce钛酸铋铁电薄膜性能的损伤
2
作者 王趱 高春香 +2 位作者 张静 张跃宏 徐曼 《辐射研究与辐射工艺学报》 CAS CSCD 2022年第6期15-22,共8页
采用溶胶-凝胶法在复合基底Pt/Ti/SiO_(2)/Si上制备系列Bi_(3.25)Ce_(0.75)Ti_(3)O_(12)(BCTO)铁电薄膜,并对薄膜进行了不同剂量的γ射线辐照。通过热重-示差扫描量热分析仪(TG-DSC)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS... 采用溶胶-凝胶法在复合基底Pt/Ti/SiO_(2)/Si上制备系列Bi_(3.25)Ce_(0.75)Ti_(3)O_(12)(BCTO)铁电薄膜,并对薄膜进行了不同剂量的γ射线辐照。通过热重-示差扫描量热分析仪(TG-DSC)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS)和铁电测试仪等对辐照前后的薄膜的结构、微观形貌、铁电性、漏电性以及抗疲劳性等进行了对比研究。结果表明:随着对γ射线吸收剂量的增加,薄膜的晶体结构没有改变;薄膜的铁电性能显著减弱,剩余极化2Pr从辐照前的51.5μC/cm^(2)下降到23.7μC/cm^(2);薄膜的漏电流密度增大,从辐照前的0.9×10^(−7)A/cm^(2)增大到7.2×10^(−7)A/cm^(2);在经历10^(12)次开关极化循环后,部分薄膜出现疲劳现象。 展开更多
关键词 Γ射线 BCTO铁电薄膜 铁电性 漏电性 疲劳性
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