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基于弹性壳体模型的波箔型气体动压径向轴承静特性分析 被引量:11
1
作者 徐润 马希直 《润滑与密封》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期17-21,共5页
采用有限单元法,对波箔型气体动压径向轴承的箔片建立了弹性壳体单元模型。该模型综合考虑了箔片膜效应与弯曲效应之间的耦合,更能真实地反映出波箔和平箔的变形。运用有限差分法及Newton-Raphson迭代法耦合求解Reynolds方程和气膜厚度... 采用有限单元法,对波箔型气体动压径向轴承的箔片建立了弹性壳体单元模型。该模型综合考虑了箔片膜效应与弯曲效应之间的耦合,更能真实地反映出波箔和平箔的变形。运用有限差分法及Newton-Raphson迭代法耦合求解Reynolds方程和气膜厚度方程,分析了轴承气膜厚度分布、压力分布、箔片变形量分布以及承载能力,并与实验结果进行了比较,证明了该方法的可行性和精确性。分析了转速、箔片厚度对轴承特性的影响,结果表明:转速上升,承载能力增大;箔片厚度小于0.2mm时,厚度的改变对轴承的影响较大。 展开更多
关键词 波箔型气体径向轴承 壳体单元 箔片变形 箔片厚度
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电子显微镜测量薄膜厚度的方法
2
作者 袁庆龙 徐立华 《山西矿业学院学报》 1994年第4期281-286,共6页
介绍了几种用电子显微镜直接测量薄膜厚度的方法,包括特征几何法、会聚焦束双束衍射法等,并对这些方法的应用范围、操作难易程度、测量精确度进行了比较和分析。
关键词 电子显微镜 薄膜厚度 厚度测量 特征几何法 会聚焦束双束衍射法 测量精确度 特点比较
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Ti箔厚度对Si_3N_4/Ti/Cu/Ti/Si_3N_4部分瞬间液相连接界面结构及强度的影响 被引量:8
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作者 邹家生 翟建广 +1 位作者 初雅杰 陈铮 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第6期19-22,共4页
采用Ti/Cu/Ti中间层在1273K、180min的条件下,改变Ti箔厚度进行Si3N4陶瓷的部分瞬间液相(PTLP)连接,讨论Ti箔厚度对界面结构及连接接头强度的影响,用扫描电镜、电子探针对连接界面区域进行了分析。结果表明,在试验范围内,Ti箔厚度为10μ... 采用Ti/Cu/Ti中间层在1273K、180min的条件下,改变Ti箔厚度进行Si3N4陶瓷的部分瞬间液相(PTLP)连接,讨论Ti箔厚度对界面结构及连接接头强度的影响,用扫描电镜、电子探针对连接界面区域进行了分析。结果表明,在试验范围内,Ti箔厚度为10μm时Si3N4/Ti/Cu/Ti/Si3N4接头的室温强度最高,为210MPa。PTLP连接时,当连接温度和时间不变,且连接时间能保证等温凝固过程充分进行的条件下,Si3N4/Ti/Cu/Ti/Si3N4连接界面结构、反应层厚度、等温凝固层厚度随着Ti箔厚度改变而改变。 展开更多
关键词 部分瞬间液相连 钛箔厚度 陶瓷 界面结构 连接强度
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Improving Joint Morphologies and Tensile Strength of Al/Mg Dissimilar Alloys Friction Stir Lap Welding by Changing Zn Interlayer Thickness 被引量:5
4
作者 Jinglin Liu Shiyu Niu +3 位作者 Rong Ren Shude Ji Lei Wang Zan Lv 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 2019年第11期1385-1395,共11页
The pure Zn foils with different thicknesses(0.02, 0.05, 0.1, 0.2 and 0.3 mm) were selected as interlayers to improve the quality of friction stir lap welding joint of 7075-T6 Al and AZ31 B Mg dissimilar alloys. The e... The pure Zn foils with different thicknesses(0.02, 0.05, 0.1, 0.2 and 0.3 mm) were selected as interlayers to improve the quality of friction stir lap welding joint of 7075-T6 Al and AZ31 B Mg dissimilar alloys. The effects of the interlayer thickness on joint formation, microstructure and tensile strength were analyzed. The results displayed that the maximum length of the boundary between stir zone(SZ) and thermo-mechanically affected zone in lower plate was obtained by the addition of the Zn interlayer with 0.05 mm thickness. The Mg–Zn intermetallic compounds(IMCs) were discontinuously distributed in the SZ, replacing the continuous Al–Mg IMCs. The size of Mg–Zn IMCs increased with the increase in the thickness of the Zn interlayer. The maximum tensile shear strength of 276 N mm-1 was obtained by the addition of 0.05 mm Zn foil, which increased by 45.6% of that of the joint without the Zn foil addition. 展开更多
关键词 Al/Mg dissimilar alloys FRICTION STIR LAP welding ZN foil thickness Microstructure Tensile shear strength
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30A载流能力PCB设计与实验验证 被引量:3
5
作者 党旭辉 李清莲 廖双 《现代信息科技》 2021年第15期60-62,66,共4页
通过利用PCB设计载流能力相关电流与线宽关系的经验公式,设计了一种基于大负载电磁继电器切换能力的PCB。通过实验验证了设计的PCB载流能力、铜箔厚度、线宽以及温升的合理性。结果表明在一定范围内,PCB铜箔厚度、铜箔宽度、铜箔温升与... 通过利用PCB设计载流能力相关电流与线宽关系的经验公式,设计了一种基于大负载电磁继电器切换能力的PCB。通过实验验证了设计的PCB载流能力、铜箔厚度、线宽以及温升的合理性。结果表明在一定范围内,PCB铜箔厚度、铜箔宽度、铜箔温升与其载流能力均呈正相关关系。另外发现在最大允许通流范围内,电磁继电器表面温度与其载流能力呈正相关关系。该研究可以用于智能型面板开关电源板的设计与制造。 展开更多
关键词 载流能力 铜箔厚度 铜箔宽度 温升
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基于响应面法优化蜂窝夹层结构件制备工艺 被引量:3
6
作者 盛涛 王旭 +3 位作者 王晓蕾 田杰 郑金华 潘利剑 《高科技纤维与应用》 CAS 2019年第1期43-52,共10页
采用热压罐固化法,以蒙皮、胶黏剂、蜂窝制备蜂窝夹层结构件。以剪切强度和弯曲刚度为指标函数,以蒙皮厚度,蜂窝芯铝箔厚度,蜂窝芯高度为变量进行响应面法优化。结果表明:对性能的影响顺序为蒙皮厚度>蜂窝芯高度>蜂窝芯铝箔厚度... 采用热压罐固化法,以蒙皮、胶黏剂、蜂窝制备蜂窝夹层结构件。以剪切强度和弯曲刚度为指标函数,以蒙皮厚度,蜂窝芯铝箔厚度,蜂窝芯高度为变量进行响应面法优化。结果表明:对性能的影响顺序为蒙皮厚度>蜂窝芯高度>蜂窝芯铝箔厚度。制备蜂窝夹层结构件的最佳工艺参数为:工艺蒙皮厚度为1. 20 mm,蜂窝芯铝箔厚度为0. 05 mm,蜂窝芯高度为10 mm。 展开更多
关键词 蜂窝板 响应面法 灰色关联分析 蒙皮厚度 蜂窝芯铝箔厚度 蜂窝芯高度
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EB-PVD制备箔材的厚度均匀性研究 被引量:2
7
作者 韩杰才 李晓海 +1 位作者 陈贵清 孟松鹤 《航空材料学报》 EI CAS CSCD 2006年第1期25-28,共4页
从真空蒸镀中使用的小平面蒸发源理论出发,针对电子束物理气相沉积中为改善箔材厚度分布所须旋转大基板进行蒸镀的情况,建立了该过程的数学模型;并利用该模型对不同的坩埚位置所沉积的箔材厚度进行了定性分析,从而实现了对坩埚与基板相... 从真空蒸镀中使用的小平面蒸发源理论出发,针对电子束物理气相沉积中为改善箔材厚度分布所须旋转大基板进行蒸镀的情况,建立了该过程的数学模型;并利用该模型对不同的坩埚位置所沉积的箔材厚度进行了定性分析,从而实现了对坩埚与基板相对位置的优化,使基板上沉积的箔材厚度分布可以达到最均匀的状态。最后通过K值的提出使理论和实际箔材厚度的结果趋于一致,即证明所建立的数学模型是合理的。 展开更多
关键词 电子束物理气相沉积 数学模型 箔材厚度分布 均匀性
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Kossel-Möllenstedt衍射花样特征及薄晶体厚度测定 被引量:2
8
作者 娄艳芝 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第3期234-241,共8页
本文利用会聚束电子衍射(CBED)技术测定了晶体Si的局部厚度和消光距离ξ,讨论了关键参数n_(1)取不同值时的数据特点及对分析结果的影响规律,明确了n_(1)的确定方法,总结了Kossel-Möllenstedt(K-M)衍射花样特征及影响因素,给出了Si... 本文利用会聚束电子衍射(CBED)技术测定了晶体Si的局部厚度和消光距离ξ,讨论了关键参数n_(1)取不同值时的数据特点及对分析结果的影响规律,明确了n_(1)的确定方法,总结了Kossel-Möllenstedt(K-M)衍射花样特征及影响因素,给出了Si晶体(400)晶面K-M衍射花样的暗条纹位置预测图。结论如下:当n_(1)<真值时,在数据点较少(≤5)的情况下,数据近似符合直线关系且拟合直线斜率为正;当n_(1)=真值时,拟合直线斜率为负;当n_(1)>真值时,在数据点较少(≤5)的情况下,数据近似符合直线关系且拟合直线斜率为负,数据点较多时,远离衍射盘中心的数据会落在拟合直线的上方;如果n_(1)的取值偏大,会导致消光距离的分析结果偏小,同时试样厚度的分析结果偏大;加速电压的差异会影响K-M花样的衬度;K-M花样暗条纹之间的距离随着距离衍射盘中心距离的增大而逐渐减小;第一暗条纹距衍射盘中心的距离Δθ_(1)和第一暗条纹对应的n_(1)值均与消光距离ξ和试样厚度t有关。 展开更多
关键词 透射电子显微术 会聚束电子衍射 K-M衍射花样 薄晶体厚度 消光距离
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Study on interfacial structure and strength of Si_3N_4/Ti/Cu/Ti/Si_3N_4 PTLP bonding
9
作者 邹家生 蒋志国 +1 位作者 许志荣 陈广 《China Welding》 EI CAS 2006年第1期11-15,共5页
Partial transient liquid-phase bonding (PTLP bonding) of Si3N4 ceramic with Ti/Cu/Ti multi-interlayer is performed with changing the thickness of Ti foil. The influence of Ti foil thickness on interface structure an... Partial transient liquid-phase bonding (PTLP bonding) of Si3N4 ceramic with Ti/Cu/Ti multi-interlayer is performed with changing the thickness of Ti foil. The influence of Ti foil thickness on interface structure and joint strength was discussed. The joint interface structures are investigated by scanning electron microscope (SEM) and energy dispersion spectroscopy(EDS). The results show that the maximum joint strength of 210 MPa is obtained at room temperature in the experiments. When joining temperature and time are not changed and the process of isothermal solidification is sufficient , interface structure, reaction layer thickness and isothermal solidification thickness change with the thickness of Ti foil. 展开更多
关键词 partial transient liquid-phase bonding silicon nitride Ti foil thickness interfacial structure bonding strength
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CONTAMINATION LINE METHOD AND COMPARISON OF FOIL THICKNESS MEASUREMENT METHODS IN TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
10
作者 PAN ZhenpengGuangdong Mechanical College. Guangzhou. China 《Acta Metallurgica Sinica(English Letters)》 SCIE EI CAS CSCD 1994年第3期175-178,共4页
The paper briefly introduces the Contamination Line Method for foil thickness measurement in transmission electron microscopy and compares it with four conventional methods: the convergent beam diffraction method, the... The paper briefly introduces the Contamination Line Method for foil thickness measurement in transmission electron microscopy and compares it with four conventional methods: the convergent beam diffraction method, the contamination spot method, the methods hased on characteristic X-ray emission and continuous X-ray emission on the application, aperation and accuracy etc. 展开更多
关键词 transmission electron microscopy foil thickness measurement
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铝箔厚度对翅片管式换热器性能影响的数值计算和试验研究
11
作者 侯纪波 倪雪辉 +2 位作者 黄起建 王公文 张少飞 《制冷与空调》 2022年第5期92-97,共6页
通过研究不同厚度的铝翅片在不同规格的换热器中的传热效率,结合试验测试以及数值模拟结果,分析铝箔厚度对不同规格换热器的换热性能的影响规律。结果表明:翅片的管间距与列距的比值大,翅片传热效率高;铝箔厚度对传热效率低的翅片影响大... 通过研究不同厚度的铝翅片在不同规格的换热器中的传热效率,结合试验测试以及数值模拟结果,分析铝箔厚度对不同规格换热器的换热性能的影响规律。结果表明:翅片的管间距与列距的比值大,翅片传热效率高;铝箔厚度对传热效率低的翅片影响大;管列距为19.05 mm×12.7 mm的Ф7换热器应选择0.095mm的铝箔,而管列距为22mm×19.05mm的Ф8换热器应选择0.105mm的铝箔。 展开更多
关键词 铝箔厚度 翅片效率 翅片管式换热器 换热性能 试验测试
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7055铝合金中纳米尺度Al_(2)ZnZr的结构和析出特征
12
作者 娄艳芝 李春志 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第5期1277-1288,共12页
利用透射电子显微镜(TEM)观察和分析了7055-T7751预拉伸厚板中的一种纳米尺度析出相,采用选区电子衍射(SAED)分析方法以及能谱成分分析方法(EDS)对析出相的结构和成分进行了表征,并结合析出相的明场像和高分辨(HRTEM)像,确定了析出相的... 利用透射电子显微镜(TEM)观察和分析了7055-T7751预拉伸厚板中的一种纳米尺度析出相,采用选区电子衍射(SAED)分析方法以及能谱成分分析方法(EDS)对析出相的结构和成分进行了表征,并结合析出相的明场像和高分辨(HRTEM)像,确定了析出相的种类、形貌和分布特征;通过分析基体α(Al)的五个低指数晶带轴([100]、[110]、[111]、[112]和[013])的SAED图特征,确定了纳米析出相与基体之间的取向关系;采用会聚束电子衍射(CBED)分析方法测定了入射电子束方向铝合金试样的局部厚度,分析了这种析出相的数密度。结果表明:7055-T7751预拉伸厚板中存在纳米尺度析出相Al_(2)ZnZr,呈球形或圆片状,尺寸大多在20 nm左右;Al_(2)ZnZr为简单立方(SC)结构,点阵参数为a=0.403 nm;7055-T7751预拉伸厚板中析出相Al_(2)ZnZr的数密度约为3.44×10^(11)mm^(−3);简单立方(SC)结构的析出相Al_(2)ZnZr与面心立方(FCC)结构的基体α(Al)之间存在共格关系,二者之间的取向关系为{100}_(Al)//{100}_(Al_(2)ZnZr)、〈001〉_(Al)//〈001〉_(Al_(2)ZnZr)。 展开更多
关键词 7055铝合金 Al_(2)ZnZr 析出相 取向关系 会聚束电子衍射 薄晶体厚度 数密度
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一种测量薄膜材料厚度的装置的设计
13
作者 潘振鹏 《工业工程》 1994年第4期105-107,共3页
这种测量薄膜厚度(0—800um)的装置是基于作者在1993年中提出的“污染线”法.它类似于透射电子显微镜(TEM).但简单和便宜得多。对有关部件稍加改善便可获得更高的测量精度而且操作更方便。
关键词 薄膜测量与分析 透射电子显微镜 薄膜厚度测定 污染点法 污染线法
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双束衍射法、污斑法、污线法厚度测定比较与分析 被引量:1
14
作者 袁庆龙 徐立华 侯文义 《电子显微学报》 CAS CSCD 1995年第2期130-134,共5页
对用电子显微镜测量薄膜厚度的三种方法:双束衍射法、污斑法、污线法进行了实验及比较分析。结果表明:污线法操作简单、使用方便、定位准确、测量误差小,是一种较为理想的测厚方法。
关键词 簿膜厚度 双束衍射 污斑法 污线法 金属合金
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真空钎焊高铬铸铁与Q235钢的铜箔厚度选择
15
作者 罗灵杰 任美康 《焊接技术》 2020年第3期63-65,I0008,共4页
文中研究了钎料铜箔厚度对高铬铸铁与Q235钢真空钎焊性能的影响。通过剪切试验、光学显微镜观察、扫描电镜和能谱分析研究了铜箔厚度分别为50,100,150μm时,真空钎焊得到的复合耐磨块的抗剪强度变化、钎焊层厚度及组织变化和元素扩散情... 文中研究了钎料铜箔厚度对高铬铸铁与Q235钢真空钎焊性能的影响。通过剪切试验、光学显微镜观察、扫描电镜和能谱分析研究了铜箔厚度分别为50,100,150μm时,真空钎焊得到的复合耐磨块的抗剪强度变化、钎焊层厚度及组织变化和元素扩散情况。试验结果表明,钎焊层组织由基体Cu和珠光体构成,3种铜箔厚度制备得到的复合耐磨块钎焊层厚度都约为70μm;随铜箔厚度增加,增加母材中的C和Fe原子向钎焊层扩散,使钎焊层珠光体含量增加,对复合耐磨块的抗剪强度不利;铜箔厚度为50μm时,钎焊层无缺陷且钎焊层组织中珠光体含量最少,抗剪强度最高。 展开更多
关键词 钎焊 复合耐磨块 铜箔厚度 抗剪强度
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透射电镜试样薄片厚度测定中污染线法的应用及其试验条件
16
作者 潘振鹏 《物理测试》 CAS 1996年第3期27-29,38,共4页
本文扼要地介绍透射电子显微镜试样薄片厚度测定的污染线法的基本原理,着重地介绍在日本JEOL JEM 100CX电子显微镜获得污染线并进行有关测量的试验条件。
关键词 透射电子显微镜 薄片 厚度 测定 污染线法
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单片机铝箔测厚涡流传感器的研究
17
作者 周祝农 《传感器技术》 CSCD 1991年第4期10-12,共3页
本文叙述了单片机涡流传感器的工作原理、结构特点和设计应用中的一些重要问题。该仪器具有自动调零,自动诊断,自动校正,自动显示,自动存储,自动报警,自动打印以及和上位机通讯的功能。是自动检测的有用工具。
关键词 铝箔 测厚仪 单片机 涡流传感器
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软X光激光Sn衰减膜的制备及测量
18
作者 汤学峰 顾牡 +5 位作者 吴广明 张力 祁金林 童宏勇 乔轶 陈玲燕 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第4期340-342,共3页
采用磁控溅射方法制备了 Sn 衰减膜。应用真空α能谱测厚仪和αstep 100 台阶仪分别测得 Sn 衰减膜的质量厚度为450.3 μg/cm 2,表面不均匀性< 3 % 。质量厚度和表面均匀性的测试结果均符合软 X 光激光实... 采用磁控溅射方法制备了 Sn 衰减膜。应用真空α能谱测厚仪和αstep 100 台阶仪分别测得 Sn 衰减膜的质量厚度为450.3 μg/cm 2,表面不均匀性< 3 % 。质量厚度和表面均匀性的测试结果均符合软 X 光激光实验的要求。利用俄歇电子能谱对 Sn 膜表面杂质及表面氧化情况并结合 Ar 离子束刻蚀对氧含量深度分布情况进行了分析。分析结果表明: Sn 膜暴露在空气中而氧化生成一定厚度的氧化层,其主要成分是 Sn O2 和 Sn2 O3。 展开更多
关键词 锡衰减膜 质量厚度 表面均匀性 表面氧化 薄膜
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