期刊文献+
共找到12篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
热超声倒装键合过程中的非线性动力学行为 被引量:11
1
作者 韩雷 钟掘 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第11期2056-2063,共8页
在作为微器件电气互连主要手段的热超声键合工艺中,微细键合区域内金属变形/变性/互连所需的能量,来自于超声波功率源通过换能系统所施加的微幅压剪动载.对热超声倒装键合过程的研究说明,PZT换能系统在热超声倒装键合工艺过程中的非线... 在作为微器件电气互连主要手段的热超声键合工艺中,微细键合区域内金属变形/变性/互连所需的能量,来自于超声波功率源通过换能系统所施加的微幅压剪动载.对热超声倒装键合过程的研究说明,PZT换能系统在热超声倒装键合工艺过程中的非线性动力学行为,如换能系统启动后的初值敏感性和不确定性,键合工具与换能杆之间的不稳定动力耦合,倒装芯片运动的奇异相轨线等,是深入研究键合机理以及提高工艺可靠性的重要关键. 展开更多
关键词 热超声键合 PZT换能系统 非线性动力学 倒装芯片 封装互连
下载PDF
一种基于倒装芯片的超宽带BGA封装差分传输结构
2
作者 杨振涛 余希猛 +4 位作者 张俊 段强 杨德明 白宇鹏 刘林杰 《半导体技术》 北大核心 2024年第1期91-96,共6页
随着高速数字电路和射频微波电路对时钟频率和带宽的要求越来越高,差分传输结构因其优良的噪声抑制和抗干扰性能而受到越来越多的重视。提出了一种基于倒装芯片的超宽带球栅阵列(BGA)封装差分传输结构。整体传输结构包括采用陶瓷材料制... 随着高速数字电路和射频微波电路对时钟频率和带宽的要求越来越高,差分传输结构因其优良的噪声抑制和抗干扰性能而受到越来越多的重视。提出了一种基于倒装芯片的超宽带球栅阵列(BGA)封装差分传输结构。整体传输结构包括采用陶瓷材料制作的倒装芯片用基板、BGA封装焊球和印制电路板(PCB)。主要分析了差分垂直传输结构的尺寸参数对阻抗和截止频率的影响,并利用阶梯过孔减小阻抗不连续性。整体结构的传输性能通过矢量网络分析仪测试的散射参数来表征。测试与仿真结果具有较好的一致性,在DC~60 GHz频段,差分传输结构的回波损耗≤-15 dB,插入损耗优于-1 dB,为超宽带倒装芯片的封装设计提供参考。 展开更多
关键词 陶瓷基板 倒装芯片 球栅阵列(BGA)封装差分传输结构 垂直互连 高次模 信号完整性
下载PDF
大规模红外焦平面阵列探测器的有效像元率研究
3
作者 谢珩 周铭 +1 位作者 李春领 刘江高 《红外》 CAS 2023年第6期1-6,共6页
随着大规模红外焦平面阵列探测器应用的日益广泛,用户对其有效像元率指标提出了越来越高的要求。分析了有效像元率提升的难点。通过优化基于垂直布里奇曼法的衬底生长以及表面加工等工艺,提高了液相外延材料质量,获得了低缺陷中波碲镉... 随着大规模红外焦平面阵列探测器应用的日益广泛,用户对其有效像元率指标提出了越来越高的要求。分析了有效像元率提升的难点。通过优化基于垂直布里奇曼法的衬底生长以及表面加工等工艺,提高了液相外延材料质量,获得了低缺陷中波碲镉汞薄膜外延材料;通过开发碲镉汞探测器背面平坦化工艺和优化探测器与读出电路倒装互连工艺,提高了成品率。最终提升了有效像元率指标(大于99.8%),获得了良好的效果。 展开更多
关键词 有效像元率 红外焦平面阵列 液相外延 倒装互连
下载PDF
用于3D集成的精细节距Cu/Sn微凸点倒装芯片互连工艺研究 被引量:4
4
作者 黄宏娟 赵德胜 +3 位作者 龚亚飞 张晓东 时文华 张宝顺 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2021年第2期81-86,共6页
芯片异构集成的节距不断缩小至10μm及以下,焊料外扩、桥联成为焊料微凸点互连工艺的主要技术问题。通过对微凸点节距为8μm的Cu/Sn固液扩散键合的工艺研究,探索精细节距焊料微凸点互连工艺存在的问题,分析Cu/Sn微凸点键合界面金属间的... 芯片异构集成的节距不断缩小至10μm及以下,焊料外扩、桥联成为焊料微凸点互连工艺的主要技术问题。通过对微凸点节距为8μm的Cu/Sn固液扩散键合的工艺研究,探索精细节距焊料微凸点互连工艺存在的问题,分析Cu/Sn微凸点键合界面金属间的化合物,实现了精细节距和高质量的Cu/Sn微凸点互连,获得了节距为8μm、微凸点数为1900个、总面积为3 mm×3 mm的不均匀微凸点阵列,该阵列互连对准误差小于0.5μm,含有200个微凸点菊花链结构的电学导通。 展开更多
关键词 精细节距 倒装芯片 Cu/Sn互连
下载PDF
倒装LED芯片的焊料互连可靠性评估 被引量:3
5
作者 蒋富裕 陈亮 +1 位作者 张文林 夏卫生 《电子工艺技术》 2017年第4期187-189,207,共4页
对比测试了两类不同焊垫的倒装LED芯片的焊料互连可靠性。结果表明,采用金锡共晶合金焊垫和金焊垫的倒装LED芯片适于金锡共晶焊,具有高的互连焊点可靠性,但共晶倒装焊设备昂贵,制造成本很高;若采用普通锡基焊料封装,则由于液-固和固-固... 对比测试了两类不同焊垫的倒装LED芯片的焊料互连可靠性。结果表明,采用金锡共晶合金焊垫和金焊垫的倒装LED芯片适于金锡共晶焊,具有高的互连焊点可靠性,但共晶倒装焊设备昂贵,制造成本很高;若采用普通锡基焊料封装,则由于液-固和固-固界面的焊料反应,导致焊料与焊垫之间出现严重的界面不稳定状态,进而引起不受控的焊点剥离等一系列可靠性问题。而在倒装LED芯片的焊垫材料表层增加一层焊料阻挡层,则可以通过简单的工艺流程实现高可靠的互连封装。 展开更多
关键词 倒装LED芯片 焊料互连 可靠性 焊料阻挡层
下载PDF
高速电路倒装互连结构的不连续性分析 被引量:1
6
作者 徐研博 李尔平 +1 位作者 王蒙军 郑宏兴 《微波学报》 CSCD 北大核心 2018年第5期79-83,共5页
针对倒装互连结构的不连续性,建立了各部分结构的解析式,结合等效电路以及全波仿真模型,利用仿真软件进行电路参数提取,解释了连接器件各个部分的物理意义,研究了封装的寄生参数对器件的影响。对于高速互连结构中普遍的不连续性,如焊点... 针对倒装互连结构的不连续性,建立了各部分结构的解析式,结合等效电路以及全波仿真模型,利用仿真软件进行电路参数提取,解释了连接器件各个部分的物理意义,研究了封装的寄生参数对器件的影响。对于高速互连结构中普遍的不连续性,如焊点和传输线互连处等的信号特性进行仿真。可以找出有效的模型改进参数,使结构得到优化。应用仿真结果确定实验测试的方法,在保证模型特性的前提下,有效地降低了实验成本。最后对仿真结果进行了实验验证,并且有较好的一致性。 展开更多
关键词 倒装互连结构 不连续性 等效电路 焊点
下载PDF
A Single Mode Hybrid Ⅲ-Ⅴ/Silicon On-Chip Laser Based on Flip-Chip Bonding Technology for Optical Interconnection
7
作者 王海玲 郑婉华 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2016年第12期77-80,共4页
A single mode hybrid Ⅲ-Ⅴ/silicon on-chip laser based on the flip-chip bonding technology for on-chip optical interconnection is demonstrated. A single mode Fabry-Perot laser structure with micro-structures on an InP... A single mode hybrid Ⅲ-Ⅴ/silicon on-chip laser based on the flip-chip bonding technology for on-chip optical interconnection is demonstrated. A single mode Fabry-Perot laser structure with micro-structures on an InP ridge waveguide is designed and fabricated on an InP/AIGaInAs multiple quantum well epitaxial layer structure wafer by using i-line lithography. Then, a silicon waveguide platform including a laser mounting stage is designed and fabricated on a silicon-on-insulator substrate. The single mode laser is flip-chip bonded on the laser mounting stage. The lasing light is butt-coupling to the silicon waveguide. The laser power output from a silicon waveguide is 1.3roW, and the threshold is 37mA at room temperature and continuous wave operation. 展开更多
关键词 InP is with chip Silicon On-chip Laser Based on flip-chip Bonding Technology for Optical interconnection A Single Mode Hybrid mode for
下载PDF
倒芯片互连用的高密度积层封装基板——DSOL技术
8
作者 蔡积庆 《印制电路信息》 2003年第7期51-53,65,共4页
概述了NEC开发的新型高密度封装用积层基板技术:DSOL,它以高解像度的勿系树脂为绝缘层,形成高膜厚/孔径比的微细导通孔,采用溅射薄膜和半家成镀工艺形成微细铜导体,适用于多针数区域阵列倒芯片封装用基板。
关键词 高密度封装 积层基板 DSOL 大规模集成电路 倒芯片 芴系树脂 LSI封装 图形转移 焊盘
下载PDF
高精度倒装焊机的光学对位系统
9
作者 王雁 吕琴红 郝耀武 《电子工艺技术》 2024年第2期22-24,共3页
红外焦平面探测器芯片的像元阵列规模不断扩大,像元尺寸不断减小,与读出电路基板的精确互连变得愈加困难,对用于互连工艺核心设备倒装焊机提出了更高的要求。为实现探测器芯片与读出电路基板的精确互连,通过分析倒装焊接工艺的流程,得... 红外焦平面探测器芯片的像元阵列规模不断扩大,像元尺寸不断减小,与读出电路基板的精确互连变得愈加困难,对用于互连工艺核心设备倒装焊机提出了更高的要求。为实现探测器芯片与读出电路基板的精确互连,通过分析倒装焊接工艺的流程,得出芯片与基板的调平和对准是关键环节。介绍了倒装焊机光学对位系统的组成,并对其准直光路系统、显微成像系统、激光测距系统进行了研究。 展开更多
关键词 倒装焊机 光学对位系统 倒装互连
下载PDF
高性能512×2元线列InGaAs短波红外探测器
10
作者 朱琴 范明国 +4 位作者 宋欣波 齐浩泽 方莉媛 管涛 龚晓霞 《红外技术》 CSCD 北大核心 2024年第7期826-830,共5页
针对色选行业对高均匀性、低暗电流、低盲元率的线列InGaAs短波红外探测器的迫切需求,本文基于MOCVD生长的n-i-n型InP/InGaAs/InP外延材料,采用扩散、钝化膜制备、电极生长等工艺,制备了512×2元线列InGaAs短波红外探测器。通过优... 针对色选行业对高均匀性、低暗电流、低盲元率的线列InGaAs短波红外探测器的迫切需求,本文基于MOCVD生长的n-i-n型InP/InGaAs/InP外延材料,采用扩散、钝化膜制备、电极生长等工艺,制备了512×2元线列InGaAs短波红外探测器。通过优化器件结构及钝化膜制备工艺,器件暗电流得到了有效的抑制;通过对倒装互联工艺参数进行优化,实现了高可靠性、高连通率的512×2元线列探测器的制备。室温下(25℃)对探测器组件进行测试,其峰值探测率为1.13×10^(12) cm×Hz^(1/2)/W,暗电流密度为12.8 nA/cm^(2),有效像元率≥99.5%,响应非均匀性低至0.63%。 展开更多
关键词 INGAAS 钝化 暗电流 倒装互联
下载PDF
红外焦平面硅基通孔加工及电极互连技术 被引量:1
11
作者 范茂彦 姜胜林 张丽芳 《电子技术应用》 北大核心 2011年第3期86-90,共5页
通过硅通孔技术实现红外焦平面电极垂直互连,提高像元占空比,缩短了互连引线长度,降低了信号延迟。用单晶硅湿法刻蚀方法形成通孔,利用直写技术将耐高温Ag-Pd导体浆料填充通孔,实现红外焦平面阵列底电极与硅基片背面倒装焊凸点互连。
关键词 红外焦平面 硅通孔 倒装焊 垂直互连 直写技术
下载PDF
焊料凸点倒装焊技术 被引量:2
12
作者 李泊 王海 +1 位作者 王东 吴桂山 《半导体情报》 2000年第2期40-44,共5页
介绍了倒芯片面阵式凸点制作、多层陶瓷基板焊盘制作及倒装焊各关键技术 ,并成功地获得了芯片与基板的互连。
关键词 凸点 陶瓷基板 倒装焊
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部