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椭圆缺陷轮廓的成品率估计
被引量:
2
1
作者
王俊平
郝跃
+3 位作者
张卓奎
任春丽
李康
方建平
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第3期433-437,共5页
现有成品率及关键面积估计模型中,假定缺陷轮廓为圆,而70%的实际缺陷轮廓接近于椭圆.提出了椭圆缺陷轮廓的成品率模型,该模型与圆模型相比更具有一般性,而圆模型轮廓的成品率模型仅为新模型的特例.比较了新模型与真实缺陷及其圆模型引...
现有成品率及关键面积估计模型中,假定缺陷轮廓为圆,而70%的实际缺陷轮廓接近于椭圆.提出了椭圆缺陷轮廓的成品率模型,该模型与圆模型相比更具有一般性,而圆模型轮廓的成品率模型仅为新模型的特例.比较了新模型与真实缺陷及其圆模型引起的成品率损失,表明新模型在成品率估计方面更加精确.
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关键词
真实缺陷
椭圆缺陷模型
关键面积
成品率模型
下载PDF
职称材料
题名
椭圆缺陷轮廓的成品率估计
被引量:
2
1
作者
王俊平
郝跃
张卓奎
任春丽
李康
方建平
机构
西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室
西安电子科技大学理学院
出处
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第3期433-437,共5页
基金
国家863高科技计划支持研究(2003AA1Z1630)
文摘
现有成品率及关键面积估计模型中,假定缺陷轮廓为圆,而70%的实际缺陷轮廓接近于椭圆.提出了椭圆缺陷轮廓的成品率模型,该模型与圆模型相比更具有一般性,而圆模型轮廓的成品率模型仅为新模型的特例.比较了新模型与真实缺陷及其圆模型引起的成品率损失,表明新模型在成品率估计方面更加精确.
关键词
真实缺陷
椭圆缺陷模型
关键面积
成品率模型
Keywords
real
defect
elliptical
defect
model
critical
area
yield
model
ing
分类号
TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
椭圆缺陷轮廓的成品率估计
王俊平
郝跃
张卓奎
任春丽
李康
方建平
《西安电子科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
2
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